用來對閃光時間不低于1e-4s的瞬態光源光譜特性進行測量的儀器，稱為瞬態光譜儀。瞬態光電攝譜技術和雜散次級光譜濾除技術為瞬態光譜儀的核心技術。

組成

1、線陣電荷耦合器件探測器;

2、電荷耦合器件驅動放大電路;

3、高速數據采集存儲系統;

4、計算機

5、人射狹縫;

6、平面反射鏡;

7、第yi球面反射鏡;

8、平面閃耀光柵;

9、第二球面反射鏡;

原理

被測光源的入射光被人射狹縫接收，入射光通過平面反射鏡反射以后，第yi球面反射鏡將其準直成平行光,之后平面閃耀光柵將其分光成一束平直光譜線，再經過第二球面反射鏡利用濾光片濾除紫外、可見或近紅外線后在線陣電荷耦合器件探測器的光敏面上準確地成像，利用線陣電荷耦合器件探測器轉化成電信號，電信號利用電荷耦合器件驅動放大電路以及高速數據采集存儲系統來進行處理，數據通過計算機進行處理和標定以后，將所測光譜的參數顯示出來。

分類

瞬態光譜儀按照波長來劃分包括近紅外瞬態光譜儀、可見光瞬態光譜儀以及紫外瞬態光譜儀。

近紅外瞬態光譜儀

 積分時間線性:大于90%;

光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于8%(k等于2);

相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2)。

波長范圍:780納米-1750納米;

波長zui大允許誤差:±2.0納米;

響應時間:小于1秒;

可見光瞬態光譜儀

光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2);

相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于3%(k等于2);

色溫zui大允許誤差:±20K;

色品坐標zui大允許誤差(△x,△y):±0.008

波長范圍:380納米~780納米;

波長zui大允許誤差:±1.0納米;

響應時間:小于1秒

積分時間線性:大于90%;

紫外瞬態光譜儀

積分時間線性:大于90%

光譜輻亮度測量擴展不確定度:U等于8%(k等于2);

相對光譜功率測量擴展不確定度:U等于5%(k等于2)

波長范圍:250納米~380納米;

波長zui大允許誤差:±0.5納米;

響應時間:小于1秒

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校準要求

需要有比較清潔的環境，沒有腐蝕性氣體,振動和電場、磁場的干擾等一些對儀器正常工作產生影響的因素儀器周邊沒有。

測量環境為光暗室為基本的要求。

測量標準及設備

環境溫度:(20±5)攝氏度,相對濕度:不超過85%。

電源供電要求:(220±10)伏。

校準裝置

校準裝置由入射光路以及標準光源系統兩部分構成。

人射光路

示波器、分束器、斬波器、離軸拋物面鏡以及平面反射鏡共同構成了人射光路。示波器采樣帶寬為為300兆赫茲，斬波器頻率不僅連續而且能夠進行調節。為了對雜散光進行屏蔽，需要使用漫反射比低的屏蔽箱將整個光路罩住。

標準光源系統:

精密轉盤、標準鎢帶燈、燈架以及汞燈共同構成了標準光源系統。低壓汞燈和高壓汞燈均有。光譜輻亮度已標定的標準鎢帶燈被采用，它的色溫為2856K。

供電設備

直流穩流電源被用來對標準鎢帶燈進行供電，電流不但連續而且能夠進行調節。在十分鐘以內輸出電流變化應當不比0.02%大。

組成

1、線陣電荷耦合器件探測器;

2、電荷耦合器件驅動放大電路;

3、高速數據采集存儲系統;

4、計算機

5、人射狹縫;

6、平面反射鏡;

7、第yi球面反射鏡;

8、平面閃耀光柵;

9、第二球面反射鏡;

與瞬態光譜儀結構以及校準裝置相關文文章：

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色品坐標示值誤差

色品橫坐標示值誤差由被校瞬態光譜儀對標準鎢帶燈色品橫坐標6次測量的算術平均值與標準鎢帶燈標準色品橫坐標值的差值來表示。

色品縱坐標示值誤差由被校瞬態光譜儀對標準鎢帶燈色品縱坐標6次測量的算術平均值與標準鎢帶燈標準色品縱坐標值的差值來表示。

瞬態光譜儀色品坐標示值誤差校準步驟：

1、將計算機啟動，進入到工作狀態，將伺服電機開關打開，伺服電機在計算機的控制下對精密轉盤進行轉動，往光路中移入標準鎢帶燈，將標準鎢帶燈的電源開關打開，對標準鎢帶燈電源的電流旋鈕進行旋轉，使其電流值漸漸升高到標準電流值,預熱半個小時。

2、對被校瞬態光譜儀進行放置，對光路進行調節，使在被校瞬態光譜儀有效地進人標準鎢帶燈入射光得到保證，將瞬態光譜儀的電源開關打開。

3、將操作軟件打開，將被測參數設置設置成色品坐標,被校瞬態光譜儀在計算機的控制下測量標準鎢帶燈色品坐標示值，并且將測量結果給出，色品坐標示值的zui終結果為取6次測量平均值，將色品坐標示值誤差給出。

4、對標準鎢帶燈的電源的電流旋鈕進行旋轉，慢慢減小其電流值到0，將標準鎢帶燈和瞬態光譜儀電源開關關閉。

5、將計算機和伺服電機電源開關關閉。

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• 瞬態光譜儀相對光譜功率校準步驟
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