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2025-04-25 14:12:09便捷的樣品存取: 便捷的樣品存取是指能夠高效、快速地訪問(wèn)和處理樣品的技術(shù)或系統(tǒng)。它通常包括自動(dòng)化樣品存儲(chǔ)與檢索設(shè)備，這些設(shè)備利用機(jī)械臂、傳送帶或機(jī)器人技術(shù)，根據(jù)預(yù)設(shè)指令快速定位并取出所需樣品。此外，樣品存取系統(tǒng)往往配備有先進(jìn)的條形碼或RFID標(biāo)簽技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)樣品的追蹤與管理。這種便捷性極大地提高了實(shí)驗(yàn)室工作效率，減少了人工錯(cuò)誤，并確保樣品的安全與完整性。

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便捷的樣品存取問(wèn)答

2024-11-01 11:36:25凝膠滲透色譜儀樣品標(biāo)準(zhǔn)，凝膠滲透色譜儀樣品標(biāo)準(zhǔn)是多少: ?凝膠滲透色譜儀（GPC）的樣品標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下幾個(gè)方面?：?樣品量?：粉末樣品不得少于10mg，液體樣品量為5-10ml?1。?溶解性?：送樣前需要確認(rèn)樣品在指定流動(dòng)相中的溶解性。難溶樣品需要自行溶解并確保溶液透明均一，過(guò)濾頭不堵?1。?過(guò)濾?：有機(jī)相樣品需要過(guò)0.45μm濾膜，水相樣品需要過(guò)0.22μm濾膜?1。?流動(dòng)相選擇?：不同流動(dòng)相對(duì)分子量范圍有不同的要求，例如DMF適用于3000-100萬(wàn)分子量范圍，THF適用于500-200萬(wàn)分子量范圍?1。?凝膠滲透色譜儀（GPC）的基本原理和適用范圍?：GPC是一種基于分子尺寸分離高分子物質(zhì)的有效方法。其核心原理是利用具有化學(xué)惰性的凝膠填料，通過(guò)不同分子量的高分子在多孔填料中的滲透速率差異來(lái)實(shí)現(xiàn)分離。大分子被排除在顆粒小孔外，流動(dòng)速率快，小分子可進(jìn)入顆粒孔隙，滯留時(shí)間長(zhǎng)。GPC不僅能用于分離和測(cè)定高分子化合物的相對(duì)分子質(zhì)量分布，還能分析小分子物質(zhì)，適用于各種流動(dòng)相和溫度條件?2。?凝膠滲透色譜儀的主要部件和技術(shù)指標(biāo)?：GPC的主要部件包括泵系統(tǒng)、自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)、凝膠色譜柱、檢測(cè)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)。技術(shù)指標(biāo)如流速范圍、壓力范圍、檢測(cè)器波長(zhǎng)范圍等都有詳細(xì)規(guī)定。例如，流速范圍為0.01-9.99ml/min，壓力范圍為0-4Mpa，檢測(cè)器波長(zhǎng)范圍為190-600nm?3。通過(guò)以上標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)指標(biāo)，可以確保GPC在樣品分析和分離過(guò)程中的準(zhǔn)確性和可靠性。

2023-10-13 15:12:23空白和樣品的數(shù)據(jù)處理: 空白和樣品的數(shù)據(jù)處理第一種：我是用樣品檢測(cè)值減去空白的檢測(cè)值，然后帶入國(guó)標(biāo)公式計(jì)算第二種：我分別把空白檢測(cè)值和樣品檢測(cè)值帶入國(guó)標(biāo)公式，算出結(jié)果后，再進(jìn)行相減理論上這兩種結(jié)果都是一樣的，但是我想了解應(yīng)該是用哪一種呢？

2022-08-08 16:28:29BJI-1鋼絲繩電腦探傷儀便捷式鋼絲繩探傷儀: BJI-1鋼絲繩電腦探傷儀便捷式鋼絲繩探傷儀 BJI-1鋼絲繩電腦探傷儀便捷式鋼絲繩探傷儀超聲波鋼軌探傷儀鋼絲繩探傷儀采用國(guó)內(nèi)、外新的鋼絲繩無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，集合了國(guó)內(nèi)外探傷技術(shù)之長(zhǎng)，結(jié)合現(xiàn)代計(jì)算機(jī)、通訊、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的一種鋼絲繩無(wú)損檢測(cè)儀器。從硬件的設(shè)計(jì)到軟件的編寫(xiě)，均已國(guó)際水平。儀器符合GB/T21837-2008與美國(guó)ASTM　E1571-2001標(biāo)準(zhǔn)要求。鋼絲繩探傷儀技術(shù)參數(shù)：受測(cè)鋼絲繩直徑：Φ1－300mm(需配置各種規(guī)格的傳感器)；傳感器與鋼絲繩相對(duì)速度：6.0　m/s使用速度：0.1～3　m/s；計(jì)算機(jī)直接采樣處理分析，可連續(xù)檢測(cè)繩長(zhǎng)≥10000m；不連續(xù)缺陷(LF局部缺陷)檢測(cè)能力：局部缺陷的定性檢測(cè)準(zhǔn)確率98%；斷絲定性檢測(cè)準(zhǔn)確率；斷絲定量檢測(cè)準(zhǔn)確率≥95%，單處集中斷絲根數(shù)允許一當(dāng)量根誤差；連續(xù)缺陷(LMA磨損)檢測(cè)能力：磨損(LMA)檢測(cè)度：±0.05%；對(duì)金屬有效截面積電氣自動(dòng)化畢業(yè)論文當(dāng)量實(shí)際檢測(cè)不確定度：±0.2%；軸向位置示值檢測(cè)能力：±0.3%；傳感器重量：約1～15kg.電源：計(jì)算機(jī)電池供電5V，交流(AC220伏±10％)。工作溫度：-20℃～40℃。儲(chǔ)存溫度：-40℃～60℃。相對(duì)濕度：≤90％RH.詳情咨詢銷售經(jīng)理：崔經(jīng)理 180-0547 *2891

2022-08-02 13:55:46BJI-1鋼絲繩電腦探傷儀便捷式鋼絲繩探傷儀: BJI-1鋼絲繩電腦探傷儀便捷式鋼絲繩探傷儀超聲波鋼軌探傷儀鋼絲繩探傷儀采用國(guó)內(nèi)、外新的鋼絲繩無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，集合了國(guó)內(nèi)外探傷技術(shù)之長(zhǎng)，結(jié)合現(xiàn)代計(jì)算機(jī)、通訊、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生的一種鋼絲繩無(wú)損檢測(cè)儀器。從硬件的設(shè)計(jì)到軟件的編寫(xiě)，均已國(guó)際水平。儀器符合GB/T21837-2008與美國(guó)ASTM　E1571-2001標(biāo)準(zhǔn)要求。鋼絲繩探傷儀技術(shù)參數(shù)：受測(cè)鋼絲繩直徑：Φ1－300mm(需配置各種規(guī)格的傳感器)；傳感器與鋼絲繩相對(duì)速度：6.0　m/s使用速度：0.1～3　m/s；計(jì)算機(jī)直接采樣處理分析，可連續(xù)檢測(cè)繩長(zhǎng)≥10000m；不連續(xù)缺陷(LF局部缺陷)檢測(cè)能力：局部缺陷的定性檢測(cè)準(zhǔn)確率98%；斷絲定性檢測(cè)準(zhǔn)確率；斷絲定量檢測(cè)準(zhǔn)確率≥95%，單處集中斷絲根數(shù)允許一當(dāng)量根誤差；連續(xù)缺陷(LMA磨損)檢測(cè)能力：磨損(LMA)檢測(cè)度：±0.05%；對(duì)金屬有效截面積電氣自動(dòng)化畢業(yè)論文當(dāng)量實(shí)際檢測(cè)不確定度：±0.2%；軸向位置示值檢測(cè)能力：±0.3%；傳感器重量：約1～15kg.電源：計(jì)算機(jī)電池供電5V，交流(AC220伏±10％)。工作溫度：-20℃～40℃。儲(chǔ)存溫度：-40℃～60℃。相對(duì)濕度：≤90％RH.詳情咨詢銷售經(jīng)理：崔經(jīng)理 180-0547 *2891

2021-12-07 15:35:42原子力顯微鏡中的常用“密語(yǔ)”,讓操作更便捷: 關(guān)于原子力顯微鏡有很多專業(yè)性名詞，如果能看懂這種常用“密語(yǔ)”,讓后面操作更便捷1. AFM：即Atomic Force Microscope（原子力顯微鏡）的縮寫(xiě)。原子力顯微鏡是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。 2. SPM：即Scanning Probe Microscope（掃描探針顯微鏡）的縮寫(xiě)。是綜合運(yùn)用光電子技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械設(shè)計(jì)和加工、自動(dòng)控制技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)高速采集和控制及高分辨圖形處理技術(shù)等現(xiàn)代科技成果的光、機(jī)、電一體化的高科技產(chǎn)品。 3. 范德瓦耳斯力：van der Waals force。分子間作用力，是存在于中性分子或原子之間的一種弱堿性的電性吸引力。其能量計(jì)算的經(jīng)驗(yàn)方程為:U =B/r12- A/r6。 4. 卡西米爾效應(yīng)：金屬導(dǎo)體或介電材料的存在改變了真空二次量子化后電磁場(chǎng)能量的期望值。這個(gè)值與導(dǎo)體和介電材料的形狀及位置相關(guān)，因此卡西米爾效應(yīng)表現(xiàn)就成了與這些屬性相關(guān)的力。 5. 接觸模式（Contact Mode）：AFM最直接的成像模式。在整個(gè)掃描成像過(guò)程之中，探針針尖始終與樣品表面保持接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時(shí)，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu)，因此力的大小范圍在10-10～10-6Ｎ。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，則不宜選用接觸模式對(duì)樣品表面進(jìn)行成像。 6. 非接觸模式（non-contact mode）：非接觸模式探測(cè)試樣表面時(shí)懸臂在距離試樣表面上方5～10nm的距離處振蕩。樣品與針尖之間的相互作用由范德華力控制，通常為10-12Ｎ，樣品不會(huì)被破壞，而且針尖也不會(huì)被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。 7. 輕敲模式（Tapping Mode）：輕敲模式介于接觸模式和非接觸模式之間，是一個(gè)雜化的概念。懸臂在試樣表面上方以其共振頻率振蕩，針尖僅僅是周期性地短暫地接觸/敲擊樣品表面。這就意味著針尖接觸樣品時(shí)所產(chǎn)生的側(cè)向力被明顯地減小了，因此當(dāng)檢測(cè)柔嫩的樣品時(shí)，AFM的敲擊模式是好的選擇之一。 8. 激光檢測(cè)器：是利用激光掃描檢測(cè)原理而研制的，它主要由光學(xué)機(jī)械掃描器和掃描光學(xué)系統(tǒng)組成的激光掃描發(fā)射器，由接收光學(xué)系統(tǒng)和光電轉(zhuǎn)換電子學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的激光掃描接收器，以單片機(jī)為核心的實(shí)時(shí)控制與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構(gòu)成的控制器以及半導(dǎo)體激光電源組成。