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2025-01-21 09:30:56晶體硅材料: 晶體硅材料是一種重要的半導(dǎo)體材料，具有優(yōu)異的電學(xué)性能和化學(xué)穩(wěn)定性。它是太陽能電池、集成電路、傳感器等電子器件的關(guān)鍵原料。晶體硅材料主要分為單晶硅和多晶硅兩種，單晶硅純度高，電學(xué)性能優(yōu)越，適用于制造高性能電子器件；多晶硅則成本較低，適用于大規(guī)模生產(chǎn)。晶體硅材料在光伏產(chǎn)業(yè)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，是實(shí)現(xiàn)太陽能轉(zhuǎn)換為電能的核心材料。此外，它還在集成電路產(chǎn)業(yè)中占有重要地位，是現(xiàn)代信息技術(shù)的基石之一。

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“柔性薄膜光伏組件拉伸測試方法”等2項(xiàng)SEMI國際半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

近日，上海召開了SEMI中國光伏標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)委員會2020春季會議。

990
2020-07-15
柔性薄膜光伏組件電池片缺陷晶體硅材料

晶體硅材料文章

金相顯微鏡用于觀察晶體硅材料

 廣州市明美光電技術(shù)有限公司 509
2022-09-19

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晶體硅材料問答

2022-09-19 15:47:06金相顯微鏡用于觀察晶體硅材料: 晶體硅材料是最主要的光伏材料，性質(zhì)為帶有金屬光澤的灰黑色固體、硬度大、有脆性、常溫下化學(xué)性質(zhì)不活潑。它包括單晶硅和多晶硅.硅的單晶體,具有基本完整的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的晶體。不同的方向具有不同的性質(zhì)，是一種良好的半導(dǎo)材料。常用于制造半導(dǎo)體器件、太陽能電池等。一般需要什么顯微鏡觀察？金相顯微鏡MJ31金相顯微鏡MJ31具有長工作距離平場物鏡、超大視野目鏡，視場數(shù)可達(dá)到22mm，觀察更加平展舒適主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、FPD、電路板、金屬材料、精密刀具等制造領(lǐng)域，適用于教學(xué)及研究方面。如果您對金相顯微鏡MJ31感興趣或有疑問，歡迎與我們聯(lián)系，期待與您相約！來源：http://www.mshot.com.cn/kehuanli/20220823.html，轉(zhuǎn)載請保留出處，謝謝！

2025-02-01 15:10:14體視顯微鏡下觀察是否是晶體: 體視顯微鏡下觀察是否是晶體體視顯微鏡作為一種高分辨率、三維觀察的顯微儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。在許多實(shí)驗(yàn)中，研究者需要判斷樣本是否為晶體結(jié)構(gòu)。晶體的特征性規(guī)律性排列為其在顯微鏡下的識別提供了獨(dú)特的視覺標(biāo)志。本文將詳細(xì)探討如何使用體視顯微鏡觀察樣本并鑒定其是否為晶體，以及相關(guān)的技術(shù)細(xì)節(jié)和觀察要點(diǎn)。體視顯微鏡的基本原理與應(yīng)用體視顯微鏡，通常也被稱為立體顯微鏡，具有較強(qiáng)的深度感和立體視覺效果。其工作原理通過兩臺光學(xué)路徑并行的物鏡系統(tǒng)，利用不同角度的視線從而呈現(xiàn)物體的三維結(jié)構(gòu)。這使得觀察者能夠獲得清晰的物體表面細(xì)節(jié)及其微觀形態(tài)。相比其他類型的顯微鏡，體視顯微鏡提供的視野更廣且放大倍數(shù)適中，非常適合于觀察大尺寸樣本或三維結(jié)構(gòu)。晶體的特征與識別晶體是一種由規(guī)則排列的原子、分子或離子構(gòu)成的固體物質(zhì)，其內(nèi)部分子或原子排列有一定的對稱性和規(guī)律性。這些規(guī)律性往往決定了晶體的形態(tài)特征，包括平面、棱角和對稱性等。在體視顯微鏡下，晶體通常展現(xiàn)出清晰的邊緣，表面平滑，并且具有一定的反射性和光澤。晶體的邊界通常非常銳利，且常常與非晶體物質(zhì)形成明顯的對比。如何在體視顯微鏡下觀察晶體在使用體視顯微鏡進(jìn)行晶體觀察時，需要注意幾個關(guān)鍵因素。調(diào)整適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，確保觀察到足夠的細(xì)節(jié)。體視顯微鏡一般提供10倍到100倍的放大倍率，這對于大部分晶體樣本來說是合適的。光源的選擇也至關(guān)重要。高質(zhì)量的照明能夠幫助觀察者更清楚地看到晶體的反射和表面特征。透射光源和反射光源常常需要根據(jù)晶體的光學(xué)特性來切換，以達(dá)到佳觀察效果。體視顯微鏡觀察晶體的技巧在體視顯微鏡下觀察晶體時，觀察者應(yīng)保持樣本的穩(wěn)定，避免震動影響觀察結(jié)果。晶體樣本通常需要精確的定位，尤其是在識別晶體面時。調(diào)節(jié)鏡頭的聚焦，并慢慢調(diào)整至佳視野，有助于清晰地識別晶體的面向及其排列結(jié)構(gòu)。使用較高的分辨率和對比度設(shè)置，能夠更好地揭示晶體的獨(dú)特光澤和折射現(xiàn)象，從而增強(qiáng)對晶體形態(tài)的判斷。結(jié)論通過體視顯微鏡觀察晶體不僅可以幫助研究人員深入了解材料的微觀結(jié)構(gòu)，還能為晶體學(xué)研究提供關(guān)鍵的視覺證據(jù)。掌握體視顯微鏡的操作技巧，并結(jié)合適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)參數(shù)調(diào)整，對于晶體的識別與分析至關(guān)重要。了解晶體的結(jié)構(gòu)特征，合理利用體視顯微鏡的優(yōu)勢，是材料科學(xué)、化學(xué)、藥學(xué)等多個領(lǐng)域研究的基礎(chǔ)。

2025-01-06 18:15:14x射線晶體定向儀維修如何做？: X射線晶體定向儀維修：保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行，提升實(shí)驗(yàn)精度 X射線晶體定向儀作為一款用于晶體學(xué)研究的高精度儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、物理及生物學(xué)等領(lǐng)域。其功能主要是通過分析晶體的X射線衍射圖譜，來確定晶體的結(jié)構(gòu)和各項(xiàng)物理屬性。隨著使用頻率的增加和設(shè)備的老化，X射線晶體定向儀也會面臨各種故障問題，這時專業(yè)的維修服務(wù)顯得尤為重要。本文將深入探討X射線晶體定向儀維修的重要性、常見故障、維修方法及維護(hù)保養(yǎng)建議，幫助用戶延長設(shè)備的使用壽命并確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。 X射線晶體定向儀常見故障及診斷 X射線晶體定向儀作為精密儀器，其維修的復(fù)雜性和專業(yè)性都要求操作人員具備一定的技術(shù)水平。常見的故障類型通常包括但不限于以下幾種：設(shè)備無法啟動：可能是電源系統(tǒng)故障或主板問題導(dǎo)致電源無法正常供應(yīng)。 X射線源不穩(wěn)定：如果X射線源的輸出功率不穩(wěn)定，可能會影響實(shí)驗(yàn)的精度，通常是由于電源模塊老化或X射線管損壞引起。衍射圖譜模糊或無信號：這類問題通常與探測器的損壞、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的故障或光學(xué)系統(tǒng)的問題有關(guān)。機(jī)械系統(tǒng)問題：晶體定向儀的機(jī)械部分，如旋轉(zhuǎn)臺和樣品架，可能會因磨損或潤滑不當(dāng)而出現(xiàn)問題，影響晶體定位精度。針對這些常見故障，專業(yè)技術(shù)人員可以通過設(shè)備自檢功能、系統(tǒng)日志分析及手動測試等方法進(jìn)行準(zhǔn)確診斷，為后續(xù)的維修提供依據(jù)。 X射線晶體定向儀維修的方法針對不同的故障類型，維修方法也各有差異。以下是幾種常見的維修手段：電源系統(tǒng)維修：對于電源系統(tǒng)的故障，首先需要檢查電源輸入和輸出的電壓是否正常，并使用萬用表測量電源模塊的各個電壓輸出。若發(fā)現(xiàn)電源模塊損壞，需更換相應(yīng)的部件。 X射線源修復(fù)：當(dāng)X射線源輸出功率不穩(wěn)定時，應(yīng)檢查電源電路、X射線管及相關(guān)連接線。如果問題出在X射線管，可能需要進(jìn)行更換。而如果是電源電路的故障，則需進(jìn)行電路板修復(fù)或更換。探測器維護(hù)與校準(zhǔn)：探測器的故障可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)采集不準(zhǔn)確。定期對探測器進(jìn)行校準(zhǔn)、清潔，并檢查光電管或傳感器是否有損壞，是保障其長期穩(wěn)定運(yùn)行的重要措施。機(jī)械系統(tǒng)調(diào)試：對于機(jī)械部分的問題，首先檢查樣品臺、旋轉(zhuǎn)平臺及相關(guān)傳動部分是否存在摩擦或堵塞。需要定期對機(jī)械部件進(jìn)行潤滑，并校準(zhǔn)零點(diǎn)位置，以確保精確的晶體定位。 X射線晶體定向儀的日常維護(hù) 除了定期的維修外，日常的維護(hù)保養(yǎng)同樣至關(guān)重要。日常維護(hù)的內(nèi)容主要包括：定期清潔：清潔儀器的外部和內(nèi)部，尤其是光學(xué)鏡頭和X射線源部分，避免灰塵或污垢影響實(shí)驗(yàn)精度。檢查電源和連接線：定期檢查電源連接、線路及接口，避免出現(xiàn)接觸不良或短路現(xiàn)象。環(huán)境控制：X射線晶體定向儀的工作環(huán)境要求嚴(yán)格控制溫度、濕度和灰塵等因素，過高或過低的溫度、濕度會對設(shè)備性能造成影響。校準(zhǔn)與性能測試：定期對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并進(jìn)行性能測試，確保儀器的測量精度和重復(fù)性。結(jié)論 X射線晶體定向儀作為一項(xiàng)高精度的科學(xué)儀器，必須依賴專業(yè)的維修和日常維護(hù)才能保障其長期穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。定期檢查和維護(hù)，及時發(fā)現(xiàn)潛在的故障問題，不僅能夠有效延長設(shè)備使用壽命，還能避免因設(shè)備故障導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，從而確保研究結(jié)果的可信性。因此，對于X射線晶體定向儀的維修，用戶應(yīng)保持高度關(guān)注，并依賴于專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)提供的維修與維護(hù)服務(wù)，以確保設(shè)備始終處于佳工作狀態(tài)。

2023-03-14 11:20:50紅外硅濾光片: 由于單晶硅片具有良好的紅外光譜特性以及物理性能，我司生產(chǎn)的紅外傳感器濾光片主要采用單晶硅為基片，通過在基片上交替鍍制不同折射率和厚度的材料薄膜，使基材具有長通、短通，帶通，增透，反射等功能。我司生產(chǎn)的單晶硅紅外濾光片主要應(yīng)用在激光、成像、探測、測溫、傳感、航空航天等領(lǐng)域的傳感器上面，所以也叫紅外傳感器專用濾光片。我司提供鍍膜和不鍍膜的單晶硅濾光片。主要應(yīng)用：1、紅外報(bào)警器，光電開關(guān)。（熱釋電紅外傳感器）2、夜視儀窗口3、測溫儀窗口4、熱成像儀5、氣體分析儀產(chǎn)品參數(shù)：注:0°～45°入射時中心波長位移：≤110nm用途單晶硅片窄帶濾光片4260nm紅外窄帶濾光片CWL：4260nm@T>70~80%，F(xiàn)WHM:90~380nm帶外：UV~11μm@T>1% CO2檢測、火焰報(bào)警器、二氧化碳報(bào)警器單晶硅片窄帶濾光片3900nm紅外窄帶濾光片CWL：3900@T>70~80%，F(xiàn)WHM:90~170nm帶外：UV~11μm@T70%，F(xiàn)WHM:120nm帶外：UV~11μm@T70%，F(xiàn)WHM:125nm帶外：UV~11μm@T70%，F(xiàn)WHM:125nm帶外：UV~11μm@T75%，F(xiàn)WHM:230nm帶外：UV~11μm@T75%，F(xiàn)WHM:225nm帶外：UV~11μm@T75%，F(xiàn)WHM:205nm帶外：UV~11μm@T75%，F(xiàn)WHM:225nm帶外：UV~11μm@T70%，帶外：UV~20μm@T80%，不同厚度基材透過略有變化。單晶硅片增透膜8-14 um紅外增透膜8~14μm平均透過率T>80%，不同厚度基材透過略有變化。

2025-04-30 13:15:19碳硅爐前分析儀測量原理是什么？: 碳硅爐前分析儀測量原理碳硅爐前分析儀作為一種重要的冶金儀器設(shè)備，廣泛應(yīng)用于煉鋼、鑄造等工業(yè)領(lǐng)域。其主要功能是實(shí)時監(jiān)測和分析爐前物料中碳、硅含量，確保冶煉過程的控制，提升產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。本文將詳細(xì)介紹碳硅爐前分析儀的測量原理，解析其工作機(jī)制、主要技術(shù)特點(diǎn)以及在實(shí)際應(yīng)用中的優(yōu)勢，為相關(guān)行業(yè)的工程技術(shù)人員提供理論支持。碳硅爐前分析儀的基本工作原理碳硅爐前分析儀的核心功能是通過高精度的分析技術(shù)，實(shí)時監(jiān)測爐前的碳、硅含量，保證冶煉工藝的順利進(jìn)行。其工作原理基于光譜分析技術(shù)和化學(xué)分析原理。具體來說，分析儀通過將爐前物料的氣體、液體或固體樣本引入分析室，并通過激光或電磁波激發(fā)樣本中的元素。在此過程中，不同元素會對激發(fā)波長做出不同的響應(yīng)，從而通過光譜圖或電化學(xué)信號，獲取物料中的碳和硅含量。光譜分析技術(shù) 光譜分析是碳硅爐前分析儀常用的測量手段之一。該技術(shù)通過激發(fā)爐前樣品中的元素，使其發(fā)生特定波長的輻射，進(jìn)而通過光譜儀對這些輻射進(jìn)行捕捉與分析。根據(jù)不同元素的發(fā)射光譜特征，可以準(zhǔn)確判斷出爐料中碳、硅的濃度。該技術(shù)具有反應(yīng)速度快、精度高等優(yōu)勢，因此成為冶煉過程中實(shí)時監(jiān)控和調(diào)控的重要工具。電化學(xué)分析原理另一種常用的測量原理是電化學(xué)分析法。在此過程中，碳硅爐前分析儀通過電極與樣品之間的電流或電壓變化，測定爐料中碳、硅的含量。這種方法具有高度的靈敏度和穩(wěn)定性，能夠在不同的爐前環(huán)境中提供持續(xù)可靠的分析數(shù)據(jù)。碳硅爐前分析儀的技術(shù)優(yōu)勢實(shí)時性強(qiáng)：碳硅爐前分析儀能夠?qū)崿F(xiàn)實(shí)時數(shù)據(jù)采集與處理，大大縮短了分析時間，為生產(chǎn)過程提供即時反饋，優(yōu)化操作決策。精度高：通過精密的光譜和電化學(xué)分析，儀器能夠達(dá)到極高的測量精度，確保冶煉過程中的碳硅成分控制在最佳范圍內(nèi)。操作簡便：現(xiàn)代碳硅爐前分析儀通常配備用戶友好的界面，簡化了操作步驟，減少了人為誤差。適應(yīng)性強(qiáng)：設(shè)備可在極端的爐前高溫和復(fù)雜環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行，適用于多種冶煉作業(yè)需求。應(yīng)用領(lǐng)域碳硅爐前分析儀在鋼鐵冶煉、鑄造行業(yè)等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。在鋼鐵生產(chǎn)過程中，通過精確監(jiān)控碳硅含量，可以優(yōu)化冶煉工藝，確保產(chǎn)品質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。鑄造行業(yè)則借助該儀器實(shí)現(xiàn)材料成分的控制，從而提高鑄件的強(qiáng)度和耐用性。結(jié)語隨著冶金行業(yè)對精確控制和高效生產(chǎn)的要求不斷提高，碳硅爐前分析儀的應(yīng)用將越來越廣泛。其通過先進(jìn)的光譜分析和電化學(xué)原理，為冶煉過程提供數(shù)據(jù)支持，極大提升了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。對冶金行業(yè)來說，掌握并應(yīng)用這一技術(shù)，將為企業(yè)帶來可持續(xù)的發(fā)展動力。