好消息丨布魯克電子顯微分析中國客戶體驗中心全新升級啦！

來源：布魯克（北京）科技有限公司      分類：新品 2025-05-07 18:15:19 22閱讀次數(shù)

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電子顯微分析

客戶體驗中心

為更全面更高效服務(wù)廣大客戶，布魯克電子顯微分析中國總部的客戶體驗中心進(jìn)行了全面升級， 該中心位于上海市閔行區(qū)合川路2570號1號樓9樓的布魯克上海辦事處，是布魯克電子顯微分析儀器系列在亞洲極具代表性的的客戶體驗中心。

體驗中心包含了布魯克電子顯微分析產(chǎn)線的大部分儀器，如Bruker XFlash 常規(guī)斜插能譜儀, FlatQUAD平插式能譜儀， e-Flash EBSD及同軸TKD,新上市的又快、靈敏度又高的直接電子探測技術(shù)的EBSD---Lightning eWARP, 以及搭載在SEM上的X射線微區(qū)熒光光譜儀（Micro-XRF）XTrace 2。這里匯聚了布魯克頂尖設(shè)備與前沿技術(shù)，是一個集商務(wù)參觀、技術(shù)交流、樣品測試于一體的綜合性平臺。

PART

01

能譜儀 EDS

EDS是電子探針儀、掃描電鏡及透射電鏡成分分析的重要附件。能譜儀按照探頭位置可以分為斜插式能譜儀及平插式能譜儀。布魯克能譜儀具有精度高、速度快、適用廣以及結(jié)果可靠的優(yōu)勢，在材料科學(xué)、地質(zhì)、半導(dǎo)體、環(huán)境及刑偵等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。

1

XFlash 7代能譜儀

布魯克的第7代 QUANTAX EDS 分析系統(tǒng)配置 XFlash?7 系列探頭，具有X射線采集和分析更大的立體角，更高的輸出計數(shù)率和更優(yōu)的檢出角。結(jié)合模塊化的ESPRIT軟件，致力為用戶提供快速，準(zhǔn)確，可靠的分析結(jié)果。

2

XFlash FlatQUAD平插式能譜儀

布魯克革命性的平插式能譜儀，采用環(huán)形四元設(shè)計，采集信號數(shù)十倍于常規(guī)斜插式能譜，具有SEM中更大的X射線探測效率和靈敏度，空間分辨率優(yōu)于10 nm，是低電壓分析納米特征、低束流分析電子束敏感樣品的利器。

PART

02

背散射衍射儀 EBSD

1

eFlash EBSD, 同軸TKD

電子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction，簡稱EBSD)是使用掃描電子顯微鏡(SEM)，或SEM-FIB(聚焦離子束)或電子探針顯微分析儀（EPMA）測量和面掃描晶體試樣獲得晶體學(xué)信息的技術(shù)。在EBSD設(shè)備中，電子束入射傾斜晶體樣品，產(chǎn)生的散射電子在熒光屏上形成衍射花樣。這些衍射花樣可以表征樣品掃描區(qū)域的晶體結(jié)構(gòu)和取向等晶體學(xué)信息，所以，EBSD是一個非常強(qiáng)大的定量微觀組織表征工具。EBSD可以測定晶體取向，取向差，晶粒尺寸，織構(gòu)，應(yīng)變分析，晶界特性表征，相識別和相鑒定，斷裂分析等。EBSD技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用到了金屬加工、航空航天、汽車、微電子、地球科學(xué)等實際工業(yè)生產(chǎn)中，是一項非常成熟的獲取樣品晶體學(xué)信息的手段。

同軸TKD將常規(guī)EBSD所能做到的空間分辨率極限提高了一個數(shù)量級，可達(dá)~2nm, 被譽(yù)為納米晶材料組織表征的首選。

2

引領(lǐng)EBSD新時代的Lightning eWARP

Bruker從EBSD探測器的第一性原理出發(fā)，摒棄了傳統(tǒng)EBSD依靠熒光屏電光電的信號轉(zhuǎn)換和傳輸方式，研發(fā)出全新的超高靈敏直接電子探測傳感器，創(chuàng)造出迄今為止更快且靈敏度更高的 EBSD 探測器——eWARP。

eWARP 前所未有的信號接收效率源于其獨(dú)有的高速采集能力，這得益于其大面積感光元件設(shè)計，以及采用了專為 SEM 中低電子束能量條件優(yōu)化的硅傳感器所帶來的超高轉(zhuǎn)換率。

得益于其無與倫比的信號效率，eWARP 僅需使用較低的電子束條件即可實現(xiàn)高速采集。例如，10 kV 的加速電壓和 12 nA 的束流即可實現(xiàn)每秒 14,400 個花樣的更高采集速度。

eWARP 所提供的驚人速度和超高空間分辨率將為大多數(shù) EBSD 應(yīng)用帶來變革。特別是在大面積拼接、3D EBSD 以及原位實驗等領(lǐng)域，將迎來具有開創(chuàng)性的進(jìn)步。 

PART

03

Micro-XRF on SEM

XTrace2 

XTrace 2是用于QUANTAX 微區(qū)熒光分析系統(tǒng)的第二代X射線光源.它能夠提供快速采集高分辨率微區(qū)熒光光譜的能力。Flexispot 模式、光圈管理系統(tǒng)(AMS)和用于選擇各種初級濾片的電動馬達(dá)等先進(jìn)功能，有助于從最具挑戰(zhàn)性的樣品中收集可靠的數(shù)據(jù)。

痕量元素分析

SEM 作為主要成像儀器,提供樣品表面的高分辨率圖像。除了 EDS 分析之外,完全集成的XTrace 2 微區(qū) X射線源還可以對同一樣品進(jìn)行X射線英光分析,無需轉(zhuǎn)移樣品或額外的樣品制備。

在這里我們?yōu)槟峁I(yè)服務(wù)、讓您享受貼心體驗。

樣品測試

攜帶您的樣品，親身體驗布魯克儀器的卓越性能，獲取精準(zhǔn)數(shù)據(jù)。

技術(shù)交流

與行業(yè)專家面對面，探討前沿技術(shù)，分享應(yīng)用心得，激發(fā)創(chuàng)新靈感。

商務(wù)參觀

深入了解布魯克納米分析的先進(jìn)技術(shù)和解決方案，為您的項目賦能。

如果您有以上需求，歡迎聯(lián)系我們！我們將定期舉辦開放日活動，邀請行業(yè)專家分享最新研究成功，同時針對熱門應(yīng)用領(lǐng)域舉辦技術(shù)講座，提升您的專業(yè)技能。更重要的是，我們將組織客戶交流、用戶培訓(xùn)會，分享實踐經(jīng)驗，切實提升用戶的操作技能。

布魯克電子顯微分析儀器作為國際領(lǐng)先的分析儀器品牌，一直以來致力于為每個分析任務(wù)，提供最佳的解決方案。

布魯克電子顯微分析

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