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基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000 系列
- 品牌：日本基恩士
- 型號(hào)： VK-X3000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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基恩士（中國(guó)）有限公司
更新時(shí)間：2024-05-29 18:25:08 -
銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第3年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000 系列(10件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 超越激光顯微鏡的限制，以三重掃描方式應(yīng)對(duì)
一臺(tái)即可測(cè)量納米/ 微米/ 毫米
一臺(tái)即可了解希望獲取的信息
Z高分辨率0.01 nm 詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹：
搭載白光干涉功能
納米/微米/毫米一臺(tái)即可完成測(cè)量超越激光顯微鏡的限制，以三重掃描方式應(yīng)對(duì)
一臺(tái)即可測(cè)量納米/ 微米/ 毫米
一臺(tái)即可了解希望獲取的信息
最 高分辨率0.01 nm
采用了三重掃描方式，運(yùn)用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的細(xì)微粗糙度，以及鏡面體，透明體等。VK擁有應(yīng)對(duì)多種樣品的測(cè)量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米/毫米一臺(tái)完成測(cè)量。
產(chǎn)品特性
Basic Characteristics
觀察
從光學(xué)顯微鏡到SEM領(lǐng)域一臺(tái)設(shè)備涵蓋
42 至 28800 倍
無(wú)需對(duì)焦
適用于多種樣品
測(cè)量
非接觸瞬間掃描形狀
不會(huì)損傷目標(biāo)物
納米級(jí)別也可準(zhǔn)確測(cè)量
透明體和坡度大的目標(biāo)物也可測(cè)量
分析
希望了解的表面“差異”一目了然
定量化微小形狀
輕松比較多個(gè)樣品
粗糙度分析
三重掃描方式
解決“難以測(cè)量”的難題
可根據(jù)樣品工件的材料、形狀和測(cè)量范圍，選擇激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，進(jìn)行高精度測(cè)量。
最 高分辨率0.01 nm
即使是納米級(jí)的微小形狀變化也能準(zhǔn)確測(cè)量。
此外，如鏡面體、透明體等測(cè)量難度高的材料也能實(shí)現(xiàn)高速、高精度、大范圍的測(cè)量。
連高度差較大的凹凸處
和大范圍區(qū)域也能測(cè)量
最 大掃描區(qū)域50 mm見(jiàn)方。
凹凸不平或手掌大小的物體也能整體掃描。
只需一臺(tái)設(shè)備，即可同時(shí)掌握整體形狀和局部形狀。精確測(cè)量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
適用于各種目標(biāo)物的測(cè)量能力
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