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TESCAN AMBER 雙束聚焦掃描電子顯微鏡 FIB-SEM

品牌：捷克泰思肯
型號(hào)： AMBER
產(chǎn)地：歐洲捷克
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：￥8000000

上海愛儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時(shí)間：2025-04-18 09:17:11

銷售范圍售全國(guó)

入駐年限第4年

營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品FIB 聚焦離子束顯微鏡(10件)

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詳細(xì)介紹

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，在提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量的同時(shí)，可完成復(fù)雜的納米操作并保證極佳的精度和操作靈活性。

TESCAN AMBER 配置了最新的 BrightBeam? 鏡筒，真正的無(wú)磁場(chǎng)超高分辨（UHR）可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時(shí) SEM 的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。另一方面，創(chuàng)新的 Orage? FIB 鏡筒配有先進(jìn)的離子光學(xué)系統(tǒng)和氣體注入系統(tǒng)，使得 TESCAN AMBER 成為了世界頂級(jí)的樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應(yīng)用中都能最大程度進(jìn)行操控，不需要在復(fù)雜的技術(shù)之間進(jìn)行取舍，用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是高端FIB-SEM應(yīng)用的理想選擇，也是所有追求日常科學(xué)和技術(shù)突破的人士的分析平臺(tái)。

主要特點(diǎn)

創(chuàng)新的 BrightBeam?SEM 鏡筒技術(shù)，實(shí)現(xiàn)真正的超高分辨（UHR）

最新的 BrightBeam?SEM 鏡筒，電磁-靜電復(fù)合物鏡，配置的 70°極靴；
無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括對(duì)磁性樣品的分析；
最新的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)軸向探測(cè)器（In-Beam Axial detector ）以及多控制器，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)，更好的表面靈敏度和對(duì)比度，可以看得更細(xì)致，觀察更深入；
新型場(chǎng)發(fā)射肖特基電子槍的最大束流可達(dá)到 400 nA，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變；
新一代電路系統(tǒng)可同時(shí)支持多達(dá) 8 個(gè)實(shí)時(shí)信號(hào)通道
EquiPower? 透鏡技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性；
電子束減速技術(shù)（BDT）進(jìn)一步加強(qiáng)了低電壓下的分辨率，并能同時(shí)探測(cè) SE 和 BSE 信號(hào)（選配）；

創(chuàng)新的 Orage? Ga FIB 鏡筒可完成極具挑戰(zhàn)性的納米工程任務(wù)

創(chuàng)新的 Orage? Ga FIB 鏡筒保證絕佳的離子分辨率，30 kV 分辨率優(yōu)于 2.5 nm ，最低電壓可達(dá) 500 V；
優(yōu)秀的低壓樣品制備能力可以快速制備無(wú)損超薄 TEM 樣品；
FIB 束流最大可達(dá)100 nA，SmartMill 級(jí)別的高速切割進(jìn)行截面處理和薄片取出使得加工效率提升了一倍；
快速的 FIB 納米重構(gòu)技術(shù)，輕松了解樣品的超微觀信息；
采用新型 OptiGIS 氣體注入系統(tǒng)，可快速啟動(dòng)，沉積/蝕刻穩(wěn)定性極好，一臺(tái)儀器最多安裝6個(gè) OptiGIS；
無(wú)漏磁 SEM 成像和高速 FIB 相結(jié)合，可以快速不間斷地完成銑削/連續(xù)成像，適用于 TEM / 原子探針樣品制備或 FIB-SEM 斷層掃描。