一、系統概述

   高溫介電溫譜測量系統又可稱之為介電阻抗譜儀或介電溫譜儀，該系統是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統軟件四個組成部分。

  高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境；高溫測試夾具提供待測試樣品的安裝平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數數據。zui后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的高溫介電溫譜測量系統。

   高溫介電溫譜測量系統可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料高溫阻抗或介電特性，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實驗方案設計、測量、數據輸出、數據分析的高溫介電溫譜測量系統?？赏瑫r測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜、阻抗譜的測量數據與圖形。測試頻率為DC-30MHz。

     二、功能特點

• 夾具多樣化，1+3組合便捷實用

  公司自主研發有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。

• 控溫精度高，7種控溫方式可選

  溫度范圍從室溫至600、800℃，具備精確的PID控制算法，控溫精度可到±0.3℃，確保溫度控制不超調。提供7種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。

• 國際標準測試，數據更加可靠

  高溫介電測試夾具根據國際標準ASTM D150方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電極具有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加準確可靠。

• 阻抗分析儀集成度高，可定制開發

  公司開發的高溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。

• 圖譜數據一次測量，同時輸出

  軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。

•  數據庫存檔，數據分析更高效

  軟件自帶數據庫存儲系統，數據可保存至系統數據庫，可供歷史數據查詢與分析。另外，還支持Excel、txt文件格式導出保存。

三、  技術參數

校準頻率：DC-30MHz

夾具設計：符合ASTM D150國際標準

測試原理：平行板電容器原理

測試電極：平行板上下電極+保護電極

電極直徑：26.8mm

溫度范圍：RT-1000℃

工作溫度：RT-600℃，RT-800℃

控溫精度：±0.3℃

顯示精度：0.1℃

升溫速率：1-6℃/min

控溫方式：提供恒溫、變溫、常溫三種控溫方式，同時結合升溫、降溫溫區可組合7種不同的測量方法。

溫度控制：帶智能PID控制算法，全溫區控溫無超調。

圖譜數據：頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、時間譜、介溫譜一次測量，同時輸出，可保存BMP格式文件。

數據保存：數據庫存儲，支持excel、txt格式導出

測試樣品：薄膜、陶瓷

樣品尺寸：直徑：小于40mm，厚度：小于8mm

通訊接口：RS232接口