產(chǎn)品介紹：

旨在提高從研究應(yīng)用到常規(guī)應(yīng)用的生產(chǎn)率

K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能顯著改善。這一巨大的進(jìn)步可實(shí)現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數(shù)據(jù)以實(shí)現(xiàn)更好的化學(xué)狀態(tài)鑒定的可能性。

分析選件包括一個(gè)用于將空氣敏感樣品從手套箱轉(zhuǎn)移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊以及用于 ARXPS 數(shù)據(jù)采集的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific? Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)（全面的表面分析軟件系統(tǒng)），K-Alpha 具有一系列的軟件功能，設(shè)計(jì)用于優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報(bào)告和可用性。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結(jié)合在一起。

強(qiáng)大的性能

• 可選面積能譜分析

• 濺射深度剖析

• 微聚焦單色器

• 快照采集

• 高分辨率化學(xué)狀態(tài)能譜分析

• 絕緣樣品分析

• 定量化學(xué)成像

無以倫比的易用性

• 采集 — 光譜、圖像、曲線、線掃描

• 解讀 — 元素和化學(xué)狀態(tài)鑒定

• 處理 — 定量、峰擬合、實(shí)時(shí)曲線顯示、光譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學(xué)/XPS 圖像疊加

• 報(bào)告 — 自動生成報(bào)告且可輕松導(dǎo)出到其他軟件包

• 控制 — 所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進(jìn)行控制

• Avantage Indexer — 數(shù)據(jù)存檔管理

• 審計(jì)跟蹤記錄

• 系統(tǒng)性能記錄

• 按需校準(zhǔn)

• 完全遠(yuǎn)程操控

主要特點(diǎn)

• 分析儀 — 180° 雙聚焦半球形分析儀，配備128通道檢測器

• X 射線源 — Al Ka 微聚焦單色器，光斑尺寸可變

• 離子槍 — 能量范圍 100-4000 eV

• 電荷補(bǔ)償 — 雙束源

• 樣品量 — 4軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm 最 大樣品厚度

• 選件 — 真空轉(zhuǎn)移模塊、ARXPS 傾斜模塊、樣品偏倚模塊