美國easyXAFS公司推出臺式X射線吸收精細結構譜儀，采用獨有的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，以超高靈敏度和光源質量，實現對元素的測定、價態和配位結構分析等。此外，該設備還能夠進行X射線發射譜測試(XES)，該表征本質上是超高能量分辨率的X射線熒光光譜(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以對樣品的局部電子結構實現信息互補。廣泛應用于電池、催化劑、環境、放射性化學、地質、陶瓷等研究領域。

XAFS300

高功率版，固定光源模式，采用1200W 功率X射線管作為X射線光源，與光學模塊和探測器組裝。臺式X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀提供了透射模式測量，適用于儲能或催化等領域的研究和開發。可升級為XAFS300+型號。