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梅特勒-托利多實時粒徑與粒數(shù)分析儀 ParticleTrack G400

品牌：瑞士梅特勒托利多
型號： ParticleTrack G400
產(chǎn)地：歐洲瑞士
供應(yīng)商報價：面議

梅特勒托利多科技（中國）有限公司更新時間：2022-12-16 21:18:59

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品自動化學(xué)儀器(21件)

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產(chǎn)品特點

FBRM 是一項達到行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測量技術(shù)，可用于在線測量顆粒。無需取樣或樣品制備，即可實時報告對于顆粒粒徑和粒數(shù)敏感的高度精確的弦長分布（CLD）。不會對形狀進行假設(shè)，并且可在全工藝濃度下對不透明或半透明漿體和乳液進行測量。

詳細介紹

產(chǎn)品簡介

ParticleView V19

使用原位 PVM 圖像實時查看在線顆粒粒徑和形狀

采用 PVM（顆粒錄影和測量）技術(shù)的 ParticleView V19 是一種基于探頭的錄影顯微鏡，可以將顆粒和顆粒機制在過程中的狀況以直觀的形式呈現(xiàn)出來。在各種工藝條件下連續(xù)捕捉高分辨率圖像，無需采樣或離線分析。對顆粒粒徑和濃度變化敏感的過程趨勢，將自動與相關(guān)度最高的圖像相結(jié)合，為科學(xué)家提供了一種可確保通過每項實驗來獲取全面了解的直觀、可靠的方法。

研究顆粒粒徑和形狀 - 顆粒的高分辨率實時成像可使科學(xué)家確定過程參數(shù)對顆粒粒徑和形狀的影響。當(dāng)關(guān)鍵參數(shù)在開發(fā)、擴大和生產(chǎn)期間發(fā)生改變時，顆粒通過設(shè)計可具有可預(yù)測性。
表征瞬時事件和難以捉摸的機制 - 顆粒和顆粒結(jié)構(gòu)在進行取樣時經(jīng)常發(fā)生變化。通過在線觀察晶體、液滴及其他細微顆粒結(jié)構(gòu)，科學(xué)家可以表征可能對于優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量或過程至關(guān)重要的瞬時事件和難以捉摸的機制。
研究關(guān)鍵過程事件和擾動 - 對顆粒粒徑、形狀和濃度變化敏感的基于圖像的趨勢，有助于科學(xué)家確定并研究重要過程事件和擾動。這種快速可靠的方法可減少全面了解復(fù)雜顆粒系統(tǒng)和過程所需的時間和精力。
以較低成本做出基于證據(jù)的決策 - 通過在線觀察顆粒和顆粒機制，科學(xué)家可獲得通過其他方法很困難或很耗時而無法獲得的知識。通過這些知識能夠以較低的成本做出基于證據(jù)的決策以及過程開發(fā)。

常見的 V19 應(yīng)用包括：

了解結(jié)晶過程
確定生長、結(jié)塊、破損及形狀變化等機制
控制顆粒粒徑和形狀
監(jiān)控多晶型轉(zhuǎn)變
確定批量生產(chǎn)之間不一致性的來源
優(yōu)化油/水分離
查看無法進行取樣的顆粒和液滴系統(tǒng)

技術(shù)參數(shù)

規(guī)格 - ParticleView V19

探頭液接材料	C22 合金
探頭窗口材料	藍寶石
探頭液接溫度范圍	-80 °C 至 120 °C （吹掃）; 10 °C 至 120 °C（標(biāo)準(zhǔn)）
探頭后端溫度范圍	0 °C – 40 °C
探頭液接壓力范圍	0 barg 至 10 barg（標(biāo)準(zhǔn)）; 高達 100 barg（自定義）
認證	IEC/UL/CSA 61010-1; EN 61326-1; 1 級激光設(shè)備，符合 21CFR1040.10、21CFR1040.11 和 IEC 60825 標(biāo)準(zhǔn); 探頭后端，額定值為 IP65 和 4X
適用于	實驗室： EasyMax、OptiMax 或更高版本
軟件	iC PVM
成像系統(tǒng)	前置激光器：背散射圖像；后置激光器：使用可選的夾合式反射器傳輸圖像
照明	內(nèi)部光源; 前置激光器： 4; 后置激光器： 4
探頭窗口密封	TM（標(biāo)準(zhǔn)，無 o 型環(huán) ）
探頭直徑	19 mm [0.75 in]
探頭浸濕長度	400 mm [15.75 in]
導(dǎo)管長度	2 m [6.6 ft]
視野	1300 um x 890 um
光學(xué)分辨率	> 2 um
圖像分辨率	1500 x 1024 pixels
重量（探頭、接口單元和電纜）	1.45 kg [3.20 lb]
空氣要求	使用清潔干燥的空氣或氮氣進行吹掃; 低流速吹掃(可選，避免冷凝)，1.4 barg [20 psig]，0.5 SLPM [0.02 SCFM]
電源要求	供電 USB 擴展器; 100-240V （自動切換）， 50/60Hz，0.3A
物料號 (s)	14000031

功能特點

了解顆粒變化過程

揭示隱性機理

ParticleView實時顯微鏡是易于使用的PAT工具，它可以記錄工藝過程中自然存在的顆粒及其顆粒結(jié)構(gòu)的高分辨率圖像。通過該工具，可對每個圖像進行實時分析，并在實時過程條件下呈現(xiàn)有關(guān)顆粒粒徑、數(shù)量與形狀的簡單趨勢。

借助ParticleView，科研人員可觀察顆粒的形成、生長、破碎和形變過程，并深入了解控制其過程的隱性機理。

無需取樣即可了解

實時顯微鏡

采用PVM技術(shù)的ParticleView是基于探頭設(shè)計的，這意味著科研人員可在實時過程條件下獲得可靠的結(jié)果，而無需去現(xiàn)場獲取數(shù)據(jù)。從每個過程的開始到結(jié)束，均連續(xù)記錄圖像，從而能夠揭示隱性顆粒機理以及反映它們的過程參數(shù)。