銅線IMC鍵合封裝測量系統提供簡便快速的操作程序，只要幾個簡便的操作步驟，即可自動量化銅鋁共金區域（IMC）和非共金區域（NON-IMC）面積百 分比。減少人為判斷的錯誤率，為銅線鍵合封裝工藝制程提供高效量化的質量分析工具。本測量系統適用于各個品牌的顯微鏡（OLYMPUS,NIKON,等）。