M?nch 4107是一個用于STEM，可以實現(xiàn)前所未有的信噪比和高的光譜分辨率陰極發(fā)光檢測器。它可以幫助研究人員實現(xiàn)對單個納米粒子，量子點或原子缺陷測量進行超高分辨率的圖像和高光譜圖譜的檢測。

當(dāng)您使用STEM進行陰極熒光光譜的探測，能夠短的時間內(nèi)達到所需的信噪比是至關(guān)重要的，這樣您才可以在短時間內(nèi)測試更多的樣品。Attolight 采用創(chuàng)新技術(shù)，在與樣品毫米級的間距范圍內(nèi)，實現(xiàn)了大面積區(qū)域?qū)捔Ⅲw角高效率收集光子，而且僅僅只需利用STEM上的一個擴展孔。

Attolight M?nch 4107 強大而高效。首先，反射鏡經(jīng)過精心設(shè)計，獲得前所未有的曲率半徑和小型化水平；它可以適應(yīng)在市場上大多數(shù)校正的STEM設(shè)備，同時保持足夠的剛度和3個自由度，允許完成亞毫米級的調(diào)整。其次，M?nch 4107 直接收集樣品的陰極發(fā)光并耦合到光纖內(nèi)，保證信號到達光譜儀的強度。zui后，一個超快EMCCD相機測量信號并實現(xiàn)高的光譜分辨率，高光譜掃描能在幾秒鐘內(nèi)完成。數(shù)據(jù)可以直接通過其他技術(shù)(EELS, EDS)的軟件采集且并行顯示。

M?nch 4107并非插件。這是一個從事電子顯微鏡和光學(xué)和光譜學(xué)多年的專業(yè)知識公司提供的解決方案。Attolight將用于陰極熒光SEM分析系統(tǒng)研發(fā)中的設(shè)計、制造技術(shù)推廣到STEM設(shè)備。

M?nch 4107 包含3自由度快速校準熒光收集反射鏡，光纖耦合高分辨率光譜儀，用于快速高光譜采集的scientific級高速相機，以及具有掃描模塊STEM桿。