Nano Indenter G200型納米壓痕儀
 

第五代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)

在微/納尺度范圍內(nèi)的加載和位移構(gòu)成精確的力學(xué)測試

應(yīng)用

–   半導(dǎo)體器件, 薄膜

–   硬質(zhì)涂層, DLC薄膜

–   復(fù)合材料, 光纖, 聚合物材料

–   金屬材料, 陶瓷材料

–   無鉛焊料

–   生物材料, 生物及仿生組織等等

特點和優(yōu)勢

–         廣受贊譽的高速測試選項可以和所有G200 型納米壓痕儀配合使用, 包括DCMII 和 XP 模塊以及樣品臺

–         快速進行面積函數(shù)和框架剛度校對

–         精確和可重復(fù)的結(jié)果, 完全符合ISO14577 標準

–         通過電磁驅(qū)動, 可在無與倫比的范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)整加載力和位移

–         結(jié)構(gòu)優(yōu)化, 適合傳統(tǒng)測試或全新應(yīng)用

–         模塊化選項, 適合劃痕測試, 高溫測試

–         和動態(tài)測試

–         強大的軟件功能, 包括對試驗進行實時控制, 簡化了的特殊測試方法的開發(fā)

先進的設(shè)計

所有的納米壓痕試驗都取決于精確的加載和位移數(shù)據(jù)，要求對加載到樣品上的   載荷有精確的控制。KTzui新的第五代 G200 型納米壓痕儀采用電磁驅(qū)動的載荷裝置，從而保證測量的精確度，獨特的設(shè)計避免了橫向位移的影響。

KTzui新的第五代 G200 型納米壓痕儀的杰出設(shè)計帶來很多的便利性，包括方便的測試到整個樣品臺，精確的樣品定位，方便的確定樣品位置和測試區(qū)域，簡   便的樣品高度調(diào)整，以及快速的測試報告輸出。模塊化的控制器設(shè)計為今后的   升級帶來極大的方便。

此外，zui新的第五代 G200 型納米壓痕儀完全符合各種國際標準，保證了數(shù)據(jù)的完整性。客戶可以通過每個力學(xué)傳感器自主設(shè)計試驗，在任何時候?qū)ζ溥M行切換，同時整個設(shè)備占地面積小，適合各種實驗室環(huán)境。

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