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日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀
- 品牌:日本理學(xué)
- 型號: ZSX Primus III+ X
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):¥1500
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北京冠遠(yuǎn)科技有限公司
更新時(shí)間:2025-01-06 13:35:28
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銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀 (1件)
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- 日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀 核心參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時(shí)候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定,這對于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨(dú)特的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,可實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。
詳細(xì)介紹
日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)形式,真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素,具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置,由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時(shí)間,并且無需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、操作界面簡潔、自動(dòng)化程度高;
2、元素從O到U的分析;
3、樣品室可簡單移出方便清潔;
4、管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化;
5、特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差;
6、占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限;
7、精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求;
8、統(tǒng)計(jì)過程控制軟件工具(SPC)吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率。
日本理學(xué)ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時(shí)候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定,這對于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨(dú)特的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,可實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。
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分析元素 | 5.5 | 檢出限 | 7.8 |
重復(fù)性 | 6.3 | 檢測時(shí)間 | 025 |
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