美國(guó)Rtec雙模式臺(tái)階儀
特點(diǎn)：一臺(tái)設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡

白光干涉

白光干涉能夠進(jìn)行高分辨率圖像的掃描，對(duì)表面進(jìn)行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測(cè)量粗糙或者光滑的樣品表面。

**的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)高Z向分辨率

白光干涉法和相移兩種模式實(shí)現(xiàn)Z方向的高分辨率。
快速圖像處理系統(tǒng)達(dá)到400萬(wàn)像素
四色LED相機(jī)

更大的垂直測(cè)量范圍達(dá)10毫米

150 mmx150mm馬達(dá)控制平臺(tái)。

樣品粗糙度，粗糙表面高度拋光后的光潔度以及表面結(jié)構(gòu)測(cè)量，如陶瓷、塑料和輥鋼。

SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件

原子力顯微鏡

探針式輪廓測(cè)量能夠進(jìn)行材料在納米尺度水平的測(cè)試。提供掃描范圍70 x70um，探針更換簡(jiǎn)單。

**的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)Z和XY方向上的高分辨率

X,Y和Z方向上納米級(jí)的分辨率和精度。
線性XY壓電陶瓷掃描

包括振動(dòng)和不振動(dòng)的模式

可選的側(cè)向力和相位模成像