Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

有價(jià)格優(yōu)勢(shì)的先進(jìn)薄膜測(cè)量系統(tǒng)
以 F20 平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的 F10-HC 薄膜測(cè)量系統(tǒng)，能夠快速
的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加上 F10-HC
軟件特有的先模擬演 算法的ZG設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)
量單層與多層(例如：底漆或硬涂層 等)。
前所未的簡(jiǎn)易操作界面
現(xiàn)在，具有新樣板模式功能的 F10-HC 將更容易使用，這個(gè)
功能允許使用者匯入樣品的影像(請(qǐng)參考下頁(yè))，并直接在影
像上定義測(cè)量位置。系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)通知使用者本次測(cè)量結(jié)果是
否有效，并將測(cè)量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓使用者分析。
不需要手動(dòng)基準(zhǔn)校正
F10-HC 現(xiàn)在能執(zhí)行自動(dòng)化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時(shí)
間，這個(gè)創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使
用者立即的執(zhí)行樣本的測(cè)量 。通自動(dòng)設(shè)置積分時(shí)間完成
自動(dòng)校正， 這明可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測(cè)量而
不再需要頻繁的執(zhí)行校正程序。
背面反射干擾
背面反射干擾對(duì)厚度測(cè)量而言是一個(gè)光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn)，具有
F10-HC 系統(tǒng)的獨(dú)特接觸式探頭能將背面反射干擾的影響最
小化，使用者能以較高 的jing準(zhǔn)度來測(cè)量涂層厚度

Filmetrics 優(yōu)勢(shì)
? 嵌入式在線診斷
? 免費(fèi)離線分析軟件
? 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存
儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果

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