ZEM系列原位拉伸掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化。

ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機，采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓最高20KV可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

? 原位拉伸臺參數

▲載荷范圍：0-1000N

▲位移分辨率：20nm

▲加熱模塊：可選

▲加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

? 電鏡主機特色

▲ 真空分隔技術 ：采用獨特真空設計，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時間小于1min。

▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數達到36萬倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。

▲ 倉內攝像頭：樣品倉內置高清攝像頭，原位實驗時可實時監測樣品原位變化。