德國BMT WLI Lab 白光干涉儀

德國BMT WLI Lab 白光干涉儀可準確快速測量表面輪廓、粗糙度參數、臺階高度及其他各種表面參數，具有穩定性高，設計堅固和易于操作的特點。LED光源的應用使得在即使是很微弱的反射表面上也可進行測量。專為電子、汽車、工程工業、研究所而特別研發。

主要用途： ........
◆ 粗糙和光滑表面的顯微測量
◆ 產品凸凹結構圖
◆ 可根據特殊用途定制

主要特點：

◆粗糙和光滑表面的顯微測量；

◆數秒內快速測量；

◆快速更換被測物；

◆測量結果不受樣品的顏色和材料影響；

◆產品堅固耐用。

技術數據：

◆光源: LED（多個）

◆垂直分辨率（nm） <0.1

◆焦距，大約（mm) 15

◆圖像尺寸（像素） 1400×1000

移動平臺

◆X、Y、Z軸（mm） 50～300或更大

◆步長（μm） 1

◆平直度/100mm 約1μm

冷軋和拉絲不銹鋼表面的顯微測量和特性描述