儀器簡介：

BWS435高性能共聚焦顯微拉曼光譜儀是B&W TEK公司zuixin出品的高性能共聚焦顯微拉曼光譜儀系統，它采用先進可靠的Olympus BX61顯微鏡平臺，性能優異，配置靈活，提供豐富的附件來滿足客戶的不同的應用需要。共聚焦技術消除了非焦點區域的雜散光，大大提高了信噪比，并保證了觀察區域與檢測區域的一致性。光譜檢測系統采用了本公司的BTC661E高性能光譜儀，它采用了獨有的光路設計和TE致冷背照明式CCD陣列，具有極高的信噪比和分辨率。該系統還采用了本公司具有美國ZG的窄帶寬高穩定性激光器，激發波長532nm和785nm可選，激光帶寬<0.02nm,且功率可調，是拉曼光譜檢測的理想激發光源。另外全系列產品可加配XYZ向電動平移臺進行Raman Mapping檢測。該系統性能優異，性價比高，操作方便，是拉曼光譜檢測的理想選擇。

技術參數：

光學系統 正置
光學放大倍數 5X, 10X, 20X, 40X, 80X長工作距離物鏡
100X 長工作距離物鏡可選

調焦系統
載物臺垂直運動范圍： 25mm
載物臺配有粗調限位器
粗調旋鈕張力調節
載物臺裝配位置可變
高靈敏度微調對焦旋鈕
(最小調節步長：1 微米)

拉曼光譜檢測系統
光譜覆蓋范圍 BWS435-785 100-2600 cm-1(標準)
(65cm-1可選)
BWS435-532 100-3050 cm-1(標準)
(65cm-1可選)
分辨率 BWS435-785 3.5cm^-1
BWS435-532 3.5cm^-1
光學系統 Dual pass transmission
激發波長 532 or 785±1nm
激光帶寬 0.1nm(標準)，0.2nm(最大) ，單模0.01nm
激光功率 0-20mW (532nm 激發功率可調)，0-80mw(785nm激發，功能可調）
探測器 背照明致冷 CCD, 2048x122 pixels
探測器溫度-20°C
最長積分時間 16 分種

主要特點：

TE致冷背照式CCD陣列檢測儀器，具有很高的靈敏度與信噪比
的光學平臺設計，可提供**的系統光通量與分辨率
高性能的共聚焦顯微鏡系統，做到了真正的“所見即所得”
采用高性能拉曼專業濾光片，zuidi檢測波數可達65cm-1
采用具有美國ZG的本公司獨有的窄帶寬高穩定激光器，且功率可調
整機無移動部件，無需定期校正，使用方便，可靠性高
性能優異，性價比高。