DMP30 微電阻法測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹：

能快速、準(zhǔn)確、無(wú)損地測(cè)量印刷電路板上的銅厚度，并且不受底層銅層的影響。

產(chǎn)品特征：

堅(jiān)固耐用的手持式設(shè)備，用于測(cè)量印刷電路板上的銅厚度

測(cè)量方法：微電阻

存儲(chǔ)容量：2500個(gè)批次，250,000個(gè)測(cè)量值

堅(jiān)固的鋁制外殼，具有 IP64 防護(hù)等級(jí)、強(qiáng)化玻璃和柔軟緩沖

可更換鋰離子電池，工作時(shí)間 > 24 小時(shí)

通過(guò) USB-C 和藍(lán)牙輕松傳輸數(shù)據(jù)

通過(guò)燈光、聲音和振動(dòng)進(jìn)行實(shí)時(shí)反饋以進(jìn)行上下限監(jiān)控

校準(zhǔn)檢查功能可驗(yàn)證您當(dāng)前使用的校準(zhǔn)信息

帶數(shù)字探頭

產(chǎn)品應(yīng)用：

用于測(cè)量多層板表面銅箔厚度厚度厚度而不受中間其它銅層的影響。

使用D-PCB探頭的測(cè)量范圍：銅層厚度為0.5 - 10 µm和5 - 120 µm

測(cè)量過(guò)程中需要注意的事項(xiàng)

所有的電磁測(cè)量法都是通過(guò)比較的方法。也就是將測(cè)量信號(hào)與存儲(chǔ)在設(shè)備中的特征曲線進(jìn)行比較。為了得到正確的結(jié)果，特征曲線必須與當(dāng)前條件相匹配，可通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)實(shí)現(xiàn)。 

正確的校準(zhǔn)才是關(guān)鍵！

影響測(cè)量結(jié)果的重要因素包括：鍍層的電阻率、樣品的形狀以及表面的粗糙度。此外，操作人也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

電阻率的影響

除了鍍層的厚度，銅的電阻率也會(huì)影響探針之間的電勢(shì)差。電阻的變化取決于的合金材料的不同以及其加工方式，溫度也會(huì)引起其電阻的變化。這可能需要進(jìn)行溫度補(bǔ)償，或在相同的測(cè)量環(huán)境條件下進(jìn)行校準(zhǔn)。

樣品形狀的影響

在非常小的樣品中，電場(chǎng)的分布與大面積樣品中的分布不同，這種偏差導(dǎo)致了涂層厚度測(cè)量的系統(tǒng)誤差。因此，對(duì)于小樣品而言，需要特殊規(guī)格的探頭，或者探針距樣品的邊緣有最小距離的要求。

操作人員的影響

ZH重要一點(diǎn)，儀器的操作方式也是一個(gè)主要的影響因素。確保探頭始終垂直接觸被測(cè)面，且不受外力。為了獲得更準(zhǔn)確的測(cè)量值，還可以借助測(cè)量臺(tái)來(lái)使探頭自動(dòng)接觸樣品。