Resmap273

在178型的技術基礎上，ResMap273是半導體行業首款30毫米桌面四點探針儀。273型擴展了ResMap原來一些產品的性能，實現了太陽能對210毫米大型襯底的要求。外形小巧，堅固耐用，準確性和重復性好。

提供NIST標準片6片!

產品特點：操作簡單、快速精確

電阻測量范圍：1 mΩ/?? - 5 MΩ/??

典型應用：非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等

美國CDEZL技術: 可針對材料(不同材料、軟硬薄膜或離子植入深或淺等條件，對下針狀況**化。而此功能是可由軟見操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻煩的硬件調整。

美國CDEZL技術: 可針對材料(不同材料、軟硬薄膜或離子植入深或淺等條件，對下針狀況**化。而此功能是可由軟見操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻煩的硬件調整。

測試性能指標：

探針材料 WC

探頭壽命> 500W次

Resmap168，178，273區別：

四探針法測量電阻率有個非常大的優點，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。
與四探針法相比，傳統的二探針法更方便些，因為它只需要操作兩個探針，但是處理二探針法得到的數據卻很復雜。如圖一，電阻兩端有兩個探針接觸，每個接觸點既測量電阻兩端的電流值，也測量了電阻兩端的電壓值。我們希望確定所測量的電阻器的電阻值，總電阻值：
RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT；

其中RW是導線電阻，RC是接觸電阻，RDUT是所要測量的電阻器的電阻，顯然用這種方法不能確定RDUT的值。矯正的辦法就是使用四點接觸法，即四探針法。如圖二，電流的路徑與圖一中相同，但是測量電壓使用的是另外兩個接觸點。盡管電壓計測量的電壓也包含了導線電壓和接觸電壓，但由于電壓計的內阻很大，通過電壓計的電流非常小，因此，導線電壓與接觸電壓可以忽略不計，測量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值。
四探針法通過采用四探針法取代二探針法，盡管電流所走的路徑是一樣的，但由于消除掉了寄生壓降，使得測量變得精確了。四探針法在Lord Kelvin使用之后，變得十分普及，命名為四探針法。

成功案例-美國CDE四探針測試儀

感謝以下客戶購買美國美國CDE四探針測試儀

作為半導體行業四探針測試儀測試標準之一，購買美國CDE四探針測試儀的單位非常多。

最近購買用戶

科研客戶：清華大學,天津大學,浙江大學中山大學浙江師范大學?復旦大學北京師范大學河北大學。。。。。。

企業客戶：上海超日太陽能卡姆丹克太陽能南玻光伏榮馬新能源山東潤峰電力江蘇騰暉電力晶澳太陽能海潤光伏常州比太蘇州阿特斯西安隆基高佳太陽能江西旭陽雷迪無錫尚德武漢珈偉光伏蘇州中導光電常州天合。。。。。。

不能一一列舉敬請諒解