產品特點

無與倫比的高通量
分析敏感樣品

詳細介紹

產品亮點：

您的分析挑戰是什么？

由于荷電效應和電子束帶來的損傷，基于 SEM 的非破壞性 EDS 分析非導電（自然）生命科學樣品極其困難。此外，形貌圖和由此產生的陰影效果會影響結果的質量。布魯克 XFlash? FlatQUAD 專為克服這些限制而設計，如希臘雅典愛琴海附近的海膽樣品（帕拉森特·利維杜斯）如當前示例所示。

圖 1-3 顯示了基于 SEM 的 EDS 面分析圖，其中顯示了海膽的各種細節。圖1中，在右側以綠松石顯示脊柱管狀，而左側的綠色和綠松石鐵鏟狀結構對應為微小的脊柱。在顯微圖的中心，單個沙粒是可辨別的紅色。該圖是在 6 kV 加速電壓和低電流，使用環形 SDD（XFlash ? FlatQUAD ） 在高真空條件下采集的，無需任何樣品制備（無碳涂層或拋光）。

這種獨特的環形 EDS 探測器被放置在樣品上方，就像 BSE 探測器一樣。XFlash? FlatQUAD 具有極高的靈敏度，可在 X 射線產量情況下，最 大限度地減少樣品的陰影效應，因此是面分析粗糙表面、束流敏感樣品的完 美工具。而這樣的樣品通常就像某些生命科學樣品一樣。

二硫化鉬（MoS2）是一種工業上重要的材料，因為它是鉬的主要礦石。它具有廣泛的應用，例如汽車和機械加工的固體潤滑劑，化學工業的催化劑，半導體工業的間接帶隙材料。
EDS 光譜中具有強重疊峰的材料的解卷積和定量一直是分析方面的難點。MoS2中硫的 K 線與鉬的 L 線具有強烈峰重疊。我們使用XFlash? FlatQUAD，布魯克一種特殊的高性能EDS探測器獲得MoS2的EDS點分析能譜（圖1所示）。使用布魯克的ESPRIT2分析軟件對光譜進行解卷積和定量。ESPRIT強大的解卷積和擬合方法能夠正確識別和擬合各個峰值的重疊情況（圖 2，圖 3）。能譜的無標樣定量使Mo和S的原子濃度非常接近測量濃度。

Cu(In, Ga)Se2是一種低成本、高效率的太陽能電池材料，目前已經市場化。了解CIGS太陽能電池中多層材料在不同過程條件下的化學成分，對于進一步提高太陽能廣電轉換效率至關重要。此處顯示的是使用 XFlash? FlatQUAD EDS 探測器獲得的 CIGS 太陽能電池的 FIB/TEM 的EDS 面分析圖。