- 2025-01-21 09:30:33GIXRD
- GIXRD，即掠入射X射線衍射（Grazing Incidence X-ray Diffraction）技術，是一種用于研究材料表面及近表面微結構的分析方法。該技術利用X射線以極小角度入射樣品表面，使X射線能夠穿透樣品表層，通過衍射圖案的分析，可以獲取材料表面幾納米至幾百納米范圍內的晶體結構信息，廣泛應用于薄膜、多層膜、納米材料等研究領域。
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