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2025-01-10 17:05:38壓力掃描伐技術(shù): 壓力掃描閥技術(shù)是一種用于動態(tài)壓力測量的先進技術(shù)。它通過在流體系統(tǒng)中布置多個壓力傳感器，實現(xiàn)對整個系統(tǒng)壓力分布的快速、連續(xù)監(jiān)測。這些傳感器能夠同步采集數(shù)據(jù)，從而生成壓力分布圖，幫助用戶直觀了解系統(tǒng)內(nèi)部的壓力狀態(tài)。該技術(shù)廣泛應用于航空航天、汽車測試、風洞實驗等領(lǐng)域，對于提高系統(tǒng)性能、優(yōu)化設計和故障診斷具有重要意義。其高精度、實時性和可靠性使其成為壓力測量領(lǐng)域的重要工具。

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中國儀器協(xié)會立項《壓力掃描伐技術(shù)要求與試驗方法》對相關(guān)技術(shù)的推動作用有哪些？

《壓力掃描技術(shù)要求及檢測方法》項目的立項，將推動相關(guān)技術(shù)的規(guī)范化、標準化。通過制定技術(shù)要求和測試方法，可以統(tǒng)一壓力掃描測井技術(shù)的應用標準和規(guī)范。

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2024-02-23
壓力掃描伐技術(shù) 儀器行業(yè) 儀器發(fā)展

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壓力掃描伐技術(shù)問答

2023-02-02 10:34:22SFM激光掃描場焦點分析儀榮獲AKL 2022“激光技術(shù)創(chuàng)新獎”一等獎: 近日獲悉，來自激光光束分析儀及功率計專業(yè)供應商德國Primes公司Stefan Wolf研發(fā)團隊開發(fā)的ScanFieldMonitor (SFM)激光振鏡掃描場焦點分析儀榮獲AKL 2022年“激光技術(shù)創(chuàng)新獎”（Innovation Award Laser Technology）一等獎，獎金為1萬歐元。“激光技術(shù)創(chuàng)新獎”由AKL激光協(xié)會和ELI歐洲激光研究所聯(lián)合發(fā)起，在德國亞琛每兩年頒發(fā)一次，主要授予引領(lǐng)從應用導向研究到成功工業(yè)實施技術(shù)創(chuàng)新的激光制造商和用戶及研發(fā)人員。德國Primes公司的SFM激光掃描場焦點分析儀是一款多功能一體化的激光光束診斷設備。這項研發(fā)是由增材制造和電動汽車的許多新應用而推動的，SFM分析儀具有獨特的設計，旨在實現(xiàn)改進的工藝優(yōu)化和系統(tǒng)認證，并且能實現(xiàn)遠程控制，從而使用戶能夠更好地校準激光3D打印機，以進行工業(yè)激光3D打印。SFM根據(jù)玻璃板上測量線的散射光來確定激光束和掃描儀的參數(shù)SFM激光掃描場焦點分析儀——專利測量技術(shù)的原理可通過掃描矢量測量激光束參數(shù)。該分析儀適用于波長1000nm~1100nm、功率10W~1500W、入射角0 - 20 °以內(nèi)的任何激光光束和激光振鏡掃描設備的診斷分析，能在不到三秒鐘的時間內(nèi)，測量50μm~500μm焦點位置，峰值功率密度可高達100MW/cm2，使用戶能夠輕松確定其激光光源的各種參數(shù)：光斑直徑、位置、掃描速度。同時借助特殊的測量方案，還可以確定枕形失真、重疊掃描場的合并、焦點偏移以及激光的開啟和關(guān)閉延遲、熱透鏡檢查等時間分辨分析。SFM可以測量分析掃描場聚焦光斑的直徑、位置、掃描速度隨著越來越多的制造商將選擇性激光熔化SLM 3D打印集成到其工藝鏈中，需要復雜的激光掃描參數(shù)測量儀來制定質(zhì)量標準并保證標準的驗證，而SFM激光掃描場焦點分析儀正好滿足這項需求。SFM激光掃描場焦點分析儀采用刻有一系列10~15微米厚測量線的玻璃板的專利技術(shù)對激光光束特性進行表征。當用戶在該玻璃板上掃描激光光束時，光電二極管測量玻璃板上每個刻線的散射光。此過程可用于確定激光光束在SFM激光掃描場焦點分析儀上的路徑、焦散和場平坦度。結(jié)合集成光電二極管的采樣率，SFM激光掃描場焦點分析儀能夠計算激光從路徑起點到終點的傳播速度。再加上德國PRIMES公司特有的算法不僅可以分析多種復雜的關(guān)系，而且數(shù)據(jù)采集是在寫入掃描矢量所需的時間（幾毫秒）內(nèi)完成的。為了在粉末加工床中將激光的融合軌跡進行精確定位，至關(guān)重要的是使激光的照射順序與掃描振鏡的移動保持同步。因為SFM激光掃描場焦點分析儀可以提供絕對定位信息，因此該儀器最終可以用于校準這兩個基本參數(shù)。SFM激光掃描場焦點分析儀的主要特點是具有全功能性，它可以將多種測量功能融合到一臺設備中。這使得該儀器與各種掃描儀兼容，從而能夠表征任何基于激光的掃描系統(tǒng)。最終節(jié)省了用戶的時間成本和金錢成本。也正因為SFM激光掃描場焦點分析儀的全功能性，可以消除工藝流程對多種測量設備的需求，從而大大的降低了工藝流程的復雜性。SFM激光掃描場焦點分析儀尺寸為80 x 80 x 100mm，非常緊湊，可以放置在打印機構(gòu)建區(qū)的任何位置。PRIMES甚至添加了以太網(wǎng)接口和WLAN模塊，因此可以從3D打印機的外部遠程控制SFM激光掃描場焦點分析儀。與傳統(tǒng)的光束診斷設備不同，該系統(tǒng)能夠全功率分析光束，還可以在實際操作條件下進行測量。武漢東隆科技有限公司du家代理德國Primes公司的工業(yè)加工激光光束品質(zhì)分析儀及功率計、自動化集成激光功率計及光束分析儀，我們在技術(shù)、服務、價格上都具有非常好的優(yōu)勢。如果您在使用過程遇到任何產(chǎn)品技術(shù)相關(guān)的問題，歡迎您隨時來電垂詢。

2025-04-25 14:45:17超聲探傷儀掃描速度怎么調(diào): 超聲探傷儀掃描速度怎么調(diào)？超聲探傷儀作為一種常用于工業(yè)檢測的重要設備，能夠通過超聲波技術(shù)對物體進行非破壞性檢測，廣泛應用于金屬、焊接、復合材料等領(lǐng)域。在使用超聲探傷儀時，掃描速度的調(diào)節(jié)直接影響到檢測效果的準確性和效率。合理的掃描速度不僅能提升檢測精度，還能有效減少檢測時間，提高工作效率。本文將詳細探討超聲探傷儀掃描速度的調(diào)節(jié)方法，幫助您更好地理解如何在不同的檢測需求下進行優(yōu)化調(diào)整。超聲探傷儀的掃描速度設置與多個因素有關(guān)，包括被檢測材料的特性、探頭類型、檢驗標準以及具體的檢測任務要求。不同的材料和結(jié)構(gòu)可能需要不同的掃描速度，以保證探測信號的清晰度和準確性。在實際操作中，過快的掃描速度可能導致信號丟失或干擾，從而影響檢測結(jié)果的準確性；而過慢的掃描速度則會增加工作時間，降低工作效率。因此，選擇合適的掃描速度，既要考慮信號質(zhì)量，又要兼顧操作效率，是超聲探傷儀操作中的關(guān)鍵。超聲探傷儀的掃描速度一般通過儀器的操作面板進行設置，具體調(diào)節(jié)方式因設備型號而異。通常來說，掃描速度的調(diào)節(jié)可以通過控制儀器的掃描步進、探頭移動速率和數(shù)據(jù)采集頻率來實現(xiàn)。需要確保探頭與檢測面之間的接觸良好，避免因接觸不充分造成信號的丟失。調(diào)節(jié)掃描速度時，需要根據(jù)被檢測物體的尺寸、厚度以及材料的聲速特性進行綜合考慮。對于厚度較大的工件，可以適當減慢掃描速度，以保證超聲波信號能夠穿透并準確反映物體內(nèi)部的缺陷。超聲探傷儀的掃描速度調(diào)節(jié)是一個綜合考量的過程，需要根據(jù)不同的檢測對象和需求進行精細調(diào)整。在操作過程中，建議定期進行設備的校準和測試，以確保設備的精確性和可靠性。在選擇合適的掃描速度后，操作人員應根據(jù)檢測標準和經(jīng)驗，不斷優(yōu)化調(diào)整，以達到佳的檢測效果。為了提高超聲探傷儀的使用效果，熟練掌握其掃描速度的調(diào)節(jié)技巧是每位操作人員必須具備的技能之一。通過對速度的合理控制，能夠在確保檢測質(zhì)量的提升工作效率，達到更好的檢測效果。

2025-01-02 12:15:11聲學掃描顯微鏡探頭怎么用: 聲學掃描顯微鏡探頭怎么用聲學掃描顯微鏡（AFM）作為一項先進的成像技術(shù)，廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、半導體等領(lǐng)域。而其中，探頭的使用是實現(xiàn)精細成像的關(guān)鍵步驟之一。本文將詳細介紹聲學掃描顯微鏡探頭的使用方法，幫助科研人員更好地理解如何通過合適的操作，優(yōu)化顯微鏡的性能，獲得高質(zhì)量的樣品圖像與數(shù)據(jù)。 1. 聲學掃描顯微鏡探頭的基本構(gòu)造聲學掃描顯微鏡的探頭通常由一個極其敏感的微小探針、彈性支架和一個電子系統(tǒng)組成。其主要作用是利用超聲波或其他聲學信號與樣品表面相互作用，從而捕捉物質(zhì)表面的微小變化。探頭的極為細小，可以觸及單個分子級別的細節(jié)，因此精確的操作至關(guān)重要。 2. 如何正確使用聲學掃描顯微鏡探頭 2.1 設置探頭在使用聲學掃描顯微鏡之前，首先需要正確安裝探頭。根據(jù)不同的顯微鏡型號，探頭的安裝方式有所不同，通常需要根據(jù)廠商提供的操作手冊進行安裝。安裝時要確保探頭方向與樣品表面平行，并且探頭與樣品之間的距離要適中。探頭與樣品的接觸力通常較小，以避免損傷探針或樣品。 2.2 調(diào)整掃描參數(shù) 在安裝好探頭之后，需要根據(jù)樣品的特點調(diào)整合適的掃描參數(shù)。包括掃描速度、分辨率、探針的振幅等。掃描速度過快可能導致圖像模糊，過慢則可能增加數(shù)據(jù)采集時間，影響實驗效率。根據(jù)樣品的硬度和表面狀態(tài)，適當調(diào)整掃描的探頭力度，以保證得到高精度的成像結(jié)果。 2.3 進行樣品掃描當探頭正確安裝并且掃描參數(shù)設置好之后，便可以開始對樣品進行掃描。在此過程中，操作人員需要保持穩(wěn)定的工作環(huán)境，避免外界震動或溫度波動影響探頭的精度。探頭通過其振動與樣品的相互作用，將表面信息轉(zhuǎn)化為電信號并反饋到顯微鏡系統(tǒng)中，進而生成高分辨率的圖像。 2.4 數(shù)據(jù)分析與處理掃描完成后，所獲得的數(shù)據(jù)可以通過專用軟件進行處理和分析。根據(jù)圖像的需要，可能需要對數(shù)據(jù)進行去噪、增強對比度等后處理操作，以提高圖像質(zhì)量并進行進一步的科學分析。此時，操作人員要特別注意軟件中各類參數(shù)的設置，確保分析結(jié)果的準確性。 3. 聲學掃描顯微鏡探頭的常見問題與解決方法在使用過程中，聲學掃描顯微鏡探頭可能會遇到一些問題，比如探頭損傷、圖像噪點過多等。常見的解決方法包括：探頭損傷：探頭尖端容易受損，尤其是在操作過程中與樣品表面發(fā)生碰撞時。避免過度施加壓力或選擇硬度較高的樣品進行掃描，可以有效延長探頭的使用壽命。圖像噪點問題：噪點過多可能是由于探頭不穩(wěn)定或掃描參數(shù)設置不當導致的。可以通過調(diào)整掃描速度或使用更高質(zhì)量的探頭來改善圖像質(zhì)量。 4. 結(jié)語聲學掃描顯微鏡探頭的正確使用對實驗結(jié)果至關(guān)重要。只有在安裝、參數(shù)調(diào)整和掃描操作中細心把控，才能確保獲得高分辨率的成像數(shù)據(jù)，進而推動科研工作的發(fā)展。掌握這些基本操作方法，將有助于在材料科學、生物醫(yī)學等多個領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)精確的微觀探測，為科研創(chuàng)新提供有力支持。

2025-03-20 13:30:143D掃描儀掃描后怎么建模: 3D掃描儀掃描后怎么建模隨著3D掃描技術(shù)的快速發(fā)展，3D掃描儀已被廣泛應用于各行各業(yè)，如工業(yè)制造、建筑設計、文化遺產(chǎn)保護等。掃描后如何將獲得的點云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為高質(zhì)量的3D模型，是許多用戶面臨的挑戰(zhàn)。本文將深入探討在使用3D掃描儀掃描后的數(shù)據(jù)處理與建模流程，幫助用戶理解如何通過專業(yè)的軟件工具，將掃描結(jié)果精確轉(zhuǎn)換為可應用的3D模型。 1. 3D掃描儀掃描后的數(shù)據(jù)獲取在使用3D掃描儀進行物體掃描時，設備通過激光或其他傳感器獲取物體表面的點云數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)由成千上萬的點組成，代表著物體表面各個位置的空間坐標。掃描儀的精度和數(shù)據(jù)采集速度將直接影響到點云數(shù)據(jù)的質(zhì)量，因而選擇合適的掃描設備至關(guān)重要。 2. 點云數(shù)據(jù)處理掃描后的點云數(shù)據(jù)并不是一個完整的3D模型，而只是包含表面幾何信息的原始數(shù)據(jù)。這些點云數(shù)據(jù)通常會包含噪聲、缺失區(qū)域等問題，因此需要進行預處理。常見的預處理步驟包括去噪、濾波、點云簡化和對齊。去噪是通過去除掃描中的不必要點來提高模型精度，點云簡化則是通過減少數(shù)據(jù)點的數(shù)量來提高后續(xù)處理的效率。 3. 點云轉(zhuǎn)換為網(wǎng)格模型處理過的點云數(shù)據(jù)需要通過三角網(wǎng)格化過程轉(zhuǎn)化為3D網(wǎng)格模型。這個過程將點云中的每一個點與相鄰點連接，形成三角形面片，構(gòu)成完整的3D表面。常用的網(wǎng)格化算法有Delaunay三角化和Poisson重建等。這一階段的關(guān)鍵是確保網(wǎng)格的拓撲結(jié)構(gòu)合理，并盡可能保留細節(jié)，同時避免過度簡化導致模型失真。 4. 模型優(yōu)化與修復完成網(wǎng)格化后，生成的3D模型可能會出現(xiàn)一些瑕疵，如非流形面、裂縫或多余的面片等問題。因此，需要對模型進行優(yōu)化與修復。優(yōu)化的目的是提高模型的可用性和性能，尤其是在3D打印或虛擬現(xiàn)實等應用中，優(yōu)化后的模型能夠更好地兼容各種軟件和硬件。修復操作可以通過專業(yè)建模軟件進行，修復裂縫、填補缺失的部分、修整表面等，確保終模型的質(zhì)量達到預期標準。 5. 模型導出與應用經(jīng)過優(yōu)化的3D模型可以導出為標準的3D文件格式，如STL、OBJ、PLY等，便于后續(xù)的3D打印、虛擬現(xiàn)實展示或其他應用。根據(jù)具體需求，模型還可以進一步細化或添加紋理、材質(zhì)等元素，以適應不同的工作流程。專業(yè)結(jié)語在3D掃描后建模的過程中，從數(shù)據(jù)采集到模型優(yōu)化每一步都需要精確的技術(shù)支持和專業(yè)的工具。通過對掃描數(shù)據(jù)的處理與模型的細致修復，能夠確保終模型在精度、穩(wěn)定性以及適用性上的優(yōu)良表現(xiàn)。因此，掌握這一完整流程對3D掃描技術(shù)的高效應用至關(guān)重要。

2023-04-26 16:38:54掃描電子顯微鏡的基本原理（一）: 自1965年第一臺商品掃描電鏡問世以來，經(jīng)過50多年的不斷改進，掃描電鏡的分辨率已經(jīng)大大提高，而且大多數(shù)掃描電鏡都能與X射線能譜儀等附件或探測器組合，成為一種多功能的電子顯微儀器。在材料領(lǐng)域中，掃描電鏡發(fā)揮著極其重要的作用，可廣泛應用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究，如圖1所示的納克微束FE-1050系列場發(fā)射掃描電鏡。圖1 納克微束FE-1050系列場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡組成結(jié)構(gòu)可分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分，鏡體部分由電子光學系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)組成，電源電路系統(tǒng)為單一結(jié)構(gòu)組成。1.1 電子光學系統(tǒng)由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。1.2 信號收集檢測樣品在入射電子作用下產(chǎn)生的物理信號，然后經(jīng)視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號。1.3 真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學系統(tǒng)正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。1.4 電源電路系統(tǒng)電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓，穩(wěn)流及相應的安全保護電路所組成，其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源。圖3為掃描電鏡工作原理示意圖，具體如下：由電子槍發(fā)出的電子束在加速電壓（通常200V～30kV）的作用下，經(jīng)過兩三個電磁透鏡組成的電子光學系統(tǒng)，電子束被聚成納米尺度的束斑聚焦到試樣表面。與顯示器掃描同步的電子光學鏡筒中的掃描線圈控制電子束，在試樣表面的微小區(qū)域內(nèi)進行逐點逐行掃描。由于高能電子束與試樣相互作用，從試樣中發(fā)射出各種信號（如二次電子、背散射電子、X射線、俄歇電子、陰極熒光、吸收電子等）。圖3 掃描電鏡的工作原理示意圖這些信號被相應的探測器接收，經(jīng)過放大器、調(diào)制解調(diào)器處理后，在顯示器相應位置顯示不同的亮度，形成符合人類觀察習慣的二維形貌圖像或者其他可以理解的反差機制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠大于電子束斑尺寸，且顯示器的像素尺寸小于等于人類肉眼通常的分辨率，顯示器上的圖像相當于把試樣上相應的微小區(qū)域進行了放大，而顯示圖像有效放大倍數(shù)的限度取決于掃描電鏡分辨率的水平。早期輸出模擬圖像主要采用高分辨照相管，用單反相機直接逐點記錄在膠片上，然后沖洗相片。隨著電子技術(shù)和計算機技術(shù)的發(fā)展，如今掃描電鏡的成像實現(xiàn)了數(shù)字化圖像，模擬圖像電鏡已經(jīng)被數(shù)字電鏡取代。掃描電鏡是科技領(lǐng)域應用最多的微觀組織和表面形貌觀察設備，了解掃描電鏡的工作原理及其應用方法，有助于在科學研究中利用好掃描電鏡這個工具，對樣品進行全面細致的研究。轉(zhuǎn)載文章均出于非盈利性的教育和科研目的，如稿件涉及版權(quán)等問題，請立即聯(lián)系我們，我們會予以更改或刪除相關(guān)文章，保證您的權(quán)益。