- 2025-04-25 14:15:24樹脂材料的耐水性表征
- 樹脂材料的耐水性表征主要通過測試其在水中或潮濕環境下的性能變化來評估。常用方法包括吸水率測試，衡量材料吸收水分的能力；以及浸泡試驗，觀察材料在長時間水浸后的形態、強度等變化。此外，還會測定樹脂的水解穩定性，即材料在水解作用下性能保持的程度。這些表征手段共同評價樹脂材料在潮濕或水下環境中的適用性和耐久性。
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樹脂材料的耐水性表征問答
- 2023-06-27 13:39:46如何表征高溫下的泡沫特性？
- 泡沫分析儀是專門為研究泡沫特性而設計的，可對液體泡沫進行宏觀尺度和微觀尺度的多尺度表征。那如何表征高溫下的泡沫特性呢？為此法國泰克利斯(TECLIS)公司針對高溫下的泡沫研發生產了Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀。 Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀旨在通過在加壓和高溫實驗環境下將氣體注入到液體中來測量液體產生泡沫的能力。它還將通過測量其體積、密度和排水速率的變化來確定生成的泡沫的持久性。Foamscan HTMP能夠在高達120°C的溫度和高達8 bar的壓力下工作。 Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀能夠對液體泡沫進行多尺度的表征，它不僅可以對泡沫進行宏觀尺度的表征如泡沫體積和泡沫中的液體含量，還可以對泡沫進行微觀尺度的表征如氣泡的大小和分布，氣泡尺寸和分布隨時間的變化。可以獲取的數據：— 泡沫體積 — 液體體積— 泡沫含液量 — 氣體流量— 溫度 — 壓力— 泡沫電導率 — 氣體體積— 起泡能力 — 泡沫穩定性— 泡沫中液體穩定性 — 泡沫密度Foamscan HTMP的應用：— 石油化工— 溫度和壓力對泡沫的影響— 表面活性劑在困難條件下的起泡效能 (EOR研究)
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- 2023-08-14 15:57:11泡沫分析儀如何表征高溫下的泡沫特性？
- 泡沫分析儀是專門為研究泡沫特性而設計的，可對液體泡沫進行宏觀尺度和微觀尺度的多尺度表征。那如何表征高溫下的泡沫特性呢？為此法國泰克利斯(TECLIS)公司針對高溫下的泡沫研發生產了Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀。 Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀旨在通過在加壓和高溫實驗環境下將氣體注入到液體中來測量液體產生泡沫的能力。它還將通過測量其體積、密度和排水速率的變化來確定生成的泡沫的持久性。 Foamscan HTMP能夠在高達120°C的溫度和高達8 bar的壓力下工作。 Foamscan HTMP高溫泡沫分析儀能夠對液體泡沫進行多尺度的表征，它不僅可以對泡沫進行宏觀尺度的表征如泡沫體積和泡沫中的液體含量，還可以對泡沫進行微觀尺度的表征如氣泡的大小和分布，氣泡尺寸和分布隨時間的變化。可以獲取的數據：— 泡沫體積 — 液體體積— 泡沫含液量 — 氣體流量— 溫度 — 壓力— 泡沫電導率 — 氣體體積— 起泡能力 — 泡沫穩定性— 泡沫中液體穩定性 — 泡沫密度 Foamscan HTMP的應用：1. 石油化工2. 溫度和壓力對泡沫的影響3. 表面活性劑在困難條件下的起泡效能 (EOR研究)
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- 2023-03-16 16:20:33泡沫分析儀如何表征液體泡沫？
- 起泡性和泡沫穩定性問題對許多工業應用都至關重要，從啤酒工業到保健產品，再如洗發水和用于礦物分離的泡沫浮選工藝。工業上使用了大量泡沫測試來表征泡沫性能。然而，準確測量泡沫性能是一個挑戰。Teclis泡沫分析儀是專門為研究泡沫特性而設計，旨在表征液體泡沫的特性。FOAMSCANTM具有智能模塊化設計，無論是通過鼓氣法還是攪拌法生成泡沫，都可以實現精確的可重復的全過程測量。Teclis泡沫分析儀能夠提供全方位的測量功能。在整個實驗過程中，Teclis泡沫分析儀可提供的測量數據：? 泡沫/液體體積? 泡沫中液體含量(%)? 泡沫密度 / 穩定性? 泡尺寸和分布分析? Bikerman參數? 膨脹系數? 電導? 泡沫密度? 泡沫穩定性指數進而研究泡沫的下列性能:? 發泡能力：由有限數量的液體產生的泡沫數量。? 發泡性：達到一定體積的泡沫的時間? 泡沫穩定性：泡沫的半衰期，產生的泡沫量減少一半所需的時間。? 液體穩定性：液體的半衰期，失去用于產生泡沫的一半液體所需的時間。? 泡沫濕潤度? 低發泡和高發泡系統? 消泡劑的有效性? …在測量過程中，軟件精確控制所有參數。這保證了可靠的測量，并確保可重復性。實驗結果被記錄下來，可以導出到excel中。泡沫的圖像可以導入CSA軟件進行統計分析。泡尺寸分析(CSA)軟件分析泡沫的一個特定區域，測量氣泡的大小和隨時間的分布, 以推斷泡沫的密度和穩定性。
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- 2022-04-24 16:16:51XPS對磁性材料的表征
- 物質按照其內部結構及其在外磁場中的性狀可分為強磁性（順磁性、抗磁性）、弱磁性（鐵磁性、亞鐵磁性）和反鐵磁性物質，其中強磁性物質可作為磁性材料。磁性材料是存儲器件、永磁體、變壓器鐵芯、磁機械設備、磁電子器件、磁光器件等中最重要的部件，其分類如圖所示。眾所周知，在稀土中，磁性來源于部分填充4 f殼電子，由于這些電子定位良好，它們的磁矩很大。此外，我們常遇到的過渡金屬也是弱磁性或非磁性的，但過渡金屬和稀土的化合物通常會產生非常有趣的磁性和相關性質，這類化合物在應用磁性材料家族中同樣占據了主導地位。簡言之，磁性材料包含了所有的稀土元素和過渡金屬Sc、Ti、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Ru、Rh、Pd、Ag、Os、Ir、Pt、Au，以及p區元素Al、Ga、In、Si、Ge、Sn、As、Sb和Bi等[1, 2]。 隨著磁性材料對人們的工業生產和日常生活的影響越來越大，磁性及磁性材料領域的研究也日益漸增。那么光電子能譜（XPS）作為一種被廣泛使用于的研究表面化學成分和化學狀態的技術，能否對磁性材料進行表征呢？ 磁性材料在做XPS表征時往往會遇到以下問題：①磁性樣品自身的磁場會干擾出射光電子的運動軌跡，引起的譜峰位移和峰形畸變，導致XPS對磁性材料的定性和定量表征不具備準確性；②某些商業化XPS設備使用的磁透鏡會對磁性樣品的產生很大影響，例如磁透鏡容易將樣品磁化，甚至存在發生樣品飛出或損壞設備等風險；③關閉磁透鏡，通過靜電模式進行測樣，導致儀器的靈敏度會降低，使得測試結果不理想。久而久之，“談磁色變”深入人心，甚至導致測試中心拒絕測試可能含磁性元素的樣品。 這時或許有人就會問了，我怎么知道我的樣品到底有沒有磁性？能不能做XPS測試？ 嚴格意義上，相對磁導率 μr > 1 或相對磁化率 χm > 0，可以認為樣品具有磁性。對于XPS測試中磁性樣品的問題，首先大家要注意的是，要根據所使用的XPS設備類型進行判斷磁性：（1）如果使用的是磁透鏡類型XPS，因為磁透鏡會誘導樣品磁疇規則排列而表現出磁性，所以建議使用磁鐵去吸樣品的方法判斷磁性，如果樣品被磁鐵吸起則表明具有磁性；（2）如果是沒有磁透鏡類型XPS，建議用無磁性的鐵類物體(如曲別針或大頭針)去靠近待測樣品來判斷樣品是否具有磁性，如果待測樣品被吸到曲別針上表明具有磁性，反之沒有磁性。或者將被測樣品分別靠近靜止的指南針的兩極，若發現有一端發生排斥現象，則說明該樣品具有磁性。 通過以上方法，如果樣品沒有展示出磁性，則XPS可以直接測試；如果樣品展示出磁性，則需要消磁處理后進行XPS測試。消磁的原理：樣品有磁性時，它的磁疇是有規律排布的，消磁的目的就是將樣品中有規律排列的磁疇打亂，樣品的磁性就會被消除（如下圖所示）。因此，可以通過對樣品進行加熱、反復敲擊或外加交變磁場等方式來使內部磁疇錯亂來消磁。 對強磁性的永磁材料可以采用熱退磁方法，將磁體加熱到居里溫度以上100攝氏度，并保溫超過半個小時以上，使磁性完全消除。對表現出弱磁性的樣品，可以采用消磁線圈或退磁器退磁，如下圖所示，將樣品沿消磁線圈軸向往復移動多次即可消磁。 PHI XPS采用無磁透鏡類型，沒有外來磁場干擾樣品，所以可按照上面所說的采用曲別針或大頭針以及指南針去判斷磁性。（1）對未磁化或未充磁的物質（例如含Fe/Co/Ni粉末），可以直接測試；（2）對于弱磁性樣品，采用消磁線圈處理即可；（3）對強磁性的永磁材料可以采用熱退磁方法。 如此一來，借助PHI的XPS做磁性樣品的表征還不是小菜一碟。例如，飛秒激光器上的單晶材料CaGdAlO4（CGA）及其Yb（5%）摻雜后的樣品均具有順磁性，通過XPS（全譜見下圖）可獲取器件不同位置表面的組分信息[3]。Yb（5%）摻雜的CGA的XPS譜[3] 再比如，在研究稀土氧化物陶瓷的疏水性時，利用PHI的XPS探究樣品表面的元素組成。下圖分別為典型稀土氧化物樣品的全譜，可以發現譜圖的信噪比良好，通過軟件分析后獲得樣品表面的化學組成。可見，利用PHI-XPS能很好地表征磁性樣品。稀土氧化物的XPS。a-l）分別為Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Er, Tm, Yb, Lu的氧化物[4][1] http://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2014.08.079.[2] http://dx.doi.org/10.1016/j.surfrep.2016.02.001.[3] https://doi.org/10.1016/j.optmat.2019.03.041[4] DOI: 10.1038/NMAT3545.
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- 2023-02-01 14:56:12蔡司激光共聚焦顯微鏡-微納器件的表征分析
- 對微納器件進行表征時，常關注的便是器件的表面形貌和三維尺寸信息，比如粗糙度、深度、體積等，這些都是評價微納加工工藝的重要指標。然而，在進行表面三維的分析工作中，我們可能常遇到這樣的苦惱： 光學明場無法直接定位到亞微米級缺陷結構! 樣品結構太復雜，微弱信號無法捕獲，難以準確測量尺度信息! 三維接觸式測量經常會損傷柔軟樣品，導致測試結果不準確! 今天，友碩小編將從下面幾個角度來看看蔡司激光共聚焦顯微鏡如何幫助你更好地解決這些問題。 失效分析：多尺度多維度原位分析! 器件表面往往存在一些特殊的結構或缺陷，比如亞微米尺度的劃痕，這些特征難以在光學明場下被直接觀察到。C-DIC(圓微分干涉)觀察模式可以讓樣品表面亞微米尺度的微小起伏都可以呈現出浮雕效果，幫助我們快速定位并開展下一步的分析工作。 ▲ 不同觀察方式下晶圓表面缺陷 在定位到感興趣區域后，可以直接切換到共聚焦模式，進行表面三維形貌掃描，并進行尺寸測量及分析，無需轉移樣品即可完成樣品多尺度多維度的表征。 ▲共聚焦三維圖像及深度測量 對于某些樣品，暗場和熒光模式也是一種很好定位方法，表面起伏的結構在暗場下尤其明顯，如藍寶石這類能發熒光的晶圓，利用熒光成像也能幫助我們快速地定位到失效結構。甚至，共聚焦還可以和電鏡或者雙束電鏡(FIB)(點擊查看)實現原位關聯，在共聚焦顯微鏡下進行定位后轉移樣品到電鏡下進行更高分辨的表征分析。 深硅刻蝕：結構深，信號弱，蔡司激光共聚焦顯微鏡有辦法! 深硅刻蝕的樣品通常為窄而深的溝壑結構。接觸式測量(如臺階儀)無法接觸到溝壑底部測得信息，而由于結構特殊造成了反射光信號損失，常規白光干涉或者顯微明場無法捕獲底面的微弱信號。因此，不得不對樣品進行裂片分析，這不僅破壞了樣品，而且還使分析流程復雜化。 西湖大學張先鋒老師用蔡司激光共聚焦顯微鏡對深163.905 μm，寬3.734μm的刻蝕坑進行成像，高靈敏探測器、大功率激光及Z Brightness Correction技術可以幫助成功檢測到底部的微弱信號，完成大深寬比(近50：1)樣品的三維形貌表征與測量，輕松實現無損檢測分析。
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滬公網安備 31011502008050號