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濱松光子學商貿（中國）有限公司
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儀企號
濱松光子學商貿（中國）有限公司
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微米膜厚測量儀 C11011-01價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C11011-01
- 產地：亞洲 日本
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微米膜厚測量儀 C11011-01W價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C11011-01W
- 產地：亞洲 日本
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多點納米膜厚測量儀 C11295價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C11295
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C13027-12價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C13027-12
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C12562-04價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C12562-04
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C10178-02價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C10178-02
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C10178-03J價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C10178-03J
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C10178-03E價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C10178-03E
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C10323-02價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C10323-02
- 產地：亞洲 日本
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光學NanoGauge C10323-02E價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C10323-02E
- 產地：亞洲 日本
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微米膜厚測量儀 C11011-21價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C11011-21
- 產地：亞洲 日本
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微米膜厚測量儀 C11011-21W價格：面議- 品牌：日本濱松
- 型號：C11011-21W
- 產地：亞洲 日本
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膜厚測量系統
采用激光干涉測量和光譜干涉測量的非接觸式高精度厚度測量系統。
C11011-21W型光學微米膜厚測量儀利用激光干涉法原理，測量速度達60Hz，適用于產品線上在線測量。此外，與mappi...
C11011-21型光學微米膜厚測量儀利用激光干涉法原理，測量速度達60Hz，適用于產品在線測量。此外，選配的作圖系統可以...
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C10323型光學納米膜厚測量系統是一款微觀厚度測量系統。 在宏觀層面上無法測量具有不規則表面的物體，因為這些物體會產生高...
C10323型光學納米膜厚測量系統是一款微觀厚度測量系統。 在宏觀層面上無法測量具有不規則表面的物體，因為這些物體會產生高...
C10178型光學納米膜厚測量系統是一款利用光譜干涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C10178型光學納米膜厚測量系統是一款利用光譜干涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C10178型光學納米膜厚測量系統是一款利用光譜干涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏...
C12562型光學納米膜厚測量系統是一款小型緊湊、節省空間、安裝方便的非接觸式薄膜厚測量系統。在半導體工業中，硅通孔技術的...
C13027型光學納米膜厚測量系統是一款利用光譜干涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統。C13207不僅支持PLC連接，而且...
C11295型多點納米膜厚測量系統使用光譜相干測量學，用以測量半導體制造過程中的薄膜厚度，以及安裝在半導體制造設備上的AP...
C11011-01W型光學微米膜厚測量儀利用激光相干度量學原理，測量速度達60Hz，適用于產品線上在線測量。此外，與Map...
C11011-01型光學微米膜厚測量儀利用激光相干度量學原理，測量速度達60Hz，適用于產品線上在線測量。此外，與mapp...
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