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JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-3200FS
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
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捷歐路(北京)科貿有限公司
更新時間:2021-08-11 16:01:30
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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產品特點
- JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了zui高加速電壓為300kV的場發射電子槍(FEG)和鏡筒內置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
詳細介紹
JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場發射電子槍(FEG)和鏡筒內置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
鏡筒內置式Ω型能量過濾器(omega 過濾器)
鏡筒內置式Ω型能量過濾器內置于成像透鏡系統,能容易地獲得能量過濾像和能量損失譜,同時還能獲得與傳統電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過濾器的電子光學系統在設計上最大 程度地減少了圖像畸變,出廠前還將剩余一點的畸變做了zui后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機系統及圖像處理系統(選配件),可以構建元素面分布系統及能量損失譜系統。
新型控制系統
電子槍、電子光學系統、測角臺、抽真空系統等電子顯微鏡基本功能的系統化,實現了高穩定、高性能的控制系統。圖像畫面和用戶界面采用Windows ?*1,可以進行編程操作和附件的集中控制。
新型測角臺
系統化的新型測角臺內置壓電陶瓷驅動機構,使高倍率下的樣品移動更加精確。*2.
*1 : 注意事項:Windows是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標。
*2 : 僅有壓電元件包括在基本單元中,壓電元件的電源為選配件。