儀器簡介：
JEM-2100F應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。

利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。

JEM-2100Fzuixin設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。

SJEM-2100F可與TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera實現一體化控制。



技術參數：
1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm


主要特點：
1.高亮度場發射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側插測角臺，更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍，無機械飄移。
4.穩定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統控制，防止死機。