LTTL-3DS 型多功能缺陷熒光光譜儀是測量固體發光材料三維光譜的測量裝置。熱釋光三維發光譜，即包含溫度和波長與發光強度的三維圖譜的測定有助于識別發光中心的類型和了解相關的缺陷結構，為了解熱釋光的發光機制研究提供更加豐富的參數。LTTSL-3DS型增加了激發光源，包括X射線、紫外光源和紅外光源等，以及制冷型高靈敏穩定性探頭以提高三維光譜品質，也可以測量光激發下的材料發光譜。

儀器可以實現液氮溫度(80K)到高溫（773K）的溫度控制，能夠對發光材料中的淺能級陷阱進行分析，特別適合閃爍體、長余輝材料等發光材料的研究工作。儀器質量可靠，造形美觀，使用方便，溫度控制穩定精確，涉及多項ZG技術。儀器采用了模塊化設計，可根據用戶需求增減，可滿足不同層次的客戶需求。

主要技術性能：

l  實現多種測量模式：

1)        熱釋光三維光譜

2)        熱釋光發光曲線

3)        光釋光三維光譜

4)        光釋光發光曲線

5)        輻射發光光譜測量

6)        余輝衰減光譜測量

7)        余輝衰減曲線測量

8)        X射線熒光譜測量

l  原位X射線、紫外光激發方式，X光管管電壓：0-50kV，管電流：0-200μA，參數可調；

l  光譜測量采用高靈敏度CCD光譜測量系統，波長測量范圍：350－1000nm(可定制)；

l  波長測量分辨率：1-10nm（取決于光柵和狹縫）；

l  測量探頭：單光子PMT探測器，光譜響應范圍300-650nm，計數率線性范圍大于2×106/s

l  液氮制冷系統；

l  采用高穩定性加熱器，溫度測量范圍：80K－773K，升溫速率范圍：0.1-5K/s，溫度穩定度：小于±0.5K（60s連續觀測）；

l  可設置輻照激發、預熱、測量和退火等多種測量階段，每段溫度、時間、升溫速率都可調；

l  樣品尺寸： 直徑小于10mm，厚度小于1mm；

l  配置連續譜光源（配置單色儀，氙燈），可選不同波段激光光源；

l  USB數據接口；

l  儀器輸出數據格式:包含二進制和文本格式，可供數據分析軟件進一步分析；

l  控制軟件運行環境：Windows XP、Windows7等操作系統。提供曲線查看，三維光譜顯示和升溫曲線顯示等功能；

l  儀器參數設置刻度：包括加熱系統和光譜系統的刻度參數；

l  本底自動扣除功能，可以設定測量本底信號的時間；

l  提供配套的熱釋光分析軟件，內置熱釋光一級、二級、一般極動力學模型，并可進一步對發光曲線進行擬合、解譜分析等；

l  輸入電源：AC220±10% 50/60Hz，最大功率500W。