TOSL-3DS型熱釋光光釋光三維光譜儀適用于有關熒光體和磷光體等發光材料的發光特性和發光機理的科學研究工作。熱釋光和光釋光的三維發光譜，即包含溫度（或衰退時間）和波長與發光強度的三維圖譜的測定有助于識別發光中心的類型和了解相關的缺陷結構，為熱釋光和光釋光的發光機制研究提供新的參數。它以計算機為控制中心，測試過程完全實現自動化。儀器質量可靠，造形美觀，使用方便，溫度控制穩定精確，涉及多項ZG技術。 

主要技術性能：

l  熱釋光/光釋光三維光譜測量模式/熱釋光發光曲線測量模式

l  光譜測量采用高靈敏度CCD光譜測量系統，波長測量范圍：300－850nm（可定制）；

l  波長測量分辨率：1-10nm（取決于光柵和狹縫）；

l  光電倍增管探測器：300-650nm；

l  探頭溫度控制（僅TOSL-3DS）；

l  采用高穩定性加熱器，溫度測量范圍：室溫－500℃，升溫速率：0－50℃/s，變化間隔0.1℃/s，溫度穩定度：小于±1℃（60s連續觀測）；

l  升溫程序分為3個階段：預熱、測量和退火，且每段溫度、時間、升溫速率都可調；

l  樣品尺寸： 直徑小于10mm，厚度小于2mm；

l  光釋光測量模式：激發光源波長254nm、470nm、850nm、X射線可選；根據激發光源配用濾光片；

l  檢測光源：發光波長620nm左右，光功率可調,調節范圍1-100%；用于儀器狀態的調整和測試；

l  儀器輸出數據格式:包含二進制和文本格式，可供數據分析軟件進一步分析；

l  控制軟件運行環境：Windows XP、Windows7等操作系統。提供曲線查看，三維光譜顯示和升溫曲線顯示等功能；

l  儀器參數設置刻度：包括加熱系統和光譜系統的刻度參數，不可隨意更改；

l  本底自動扣除功能，可以設定測量本底信號的時間；

l  數據和處理軟件可以輸出Excel表格，并可查閱和打印感興趣內容。數據獲取和處理軟件也可以輸出擬合分析結果至ASCII文件，兼容其他分析作圖軟件；

輸入電源：AC220±10% 50/60Hz，最大功率500W。