尚豐科技專為掃描電鏡客戶定制高品質放大倍率標準樣品。 S1000/S1000nm掃描電鏡標樣基質材料為單晶硅或石英玻璃基片，材料性質穩定。 由德國聯邦物理研究所（PTB）對線距均勻性進行測量認證...

3D calibration 電鏡3D圖像標準樣品應用廣泛，可用于掃描電鏡SEM, 激光共聚焦顯微鏡CLSM，及原子力顯微鏡AFM/掃描隧道顯微鏡SPM

尚豐科技 用戶提供德國產高度精密的掃描電鏡3D圖像測量及分析系統。 通過背反射電子探測器（BSE）獲取4通道信號，無需傾斜樣品，即可幫助電鏡用戶快速便捷的獲取高度精密的3D背散射BSE圖像，有效...

基于更先進的薄片技術，STEBIC擁有更高的空間分辨率 將STEM電鏡和EBIC功能完好結合，為用戶提供更廣闊的的研究手段

尚豐科技向用戶提供專業的的電子束感生電流分析系統，EBIC可以用來進行集成電路中pn結的定位和損傷研究。

EBAC/RCI電子束吸收電流分析系統，能夠方便快速的定位半導體芯片電路中的短路及失效點位置，不但可以對同層電路，而且可以對次表層，甚至表層下第三層、第四層電路進行失效點的準確定位，因此能夠對半導體芯...